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具有沉积在其上的多个金属层的半导体器件

摘要

本发明提供半导体器件,具有多个堆叠的金属层。该半导体器件包括:衬底;在该衬底上沉积且由高k电介质材料形成的栅极氧化物层;在该栅极氧化物层上沉积且由该栅极氧化物层的高k电介质材料的金属的氮化物形成的第一金属层;在该第一金属层上沉积的第二金属层;在该第二金属层上沉积的第三金属层;及在该第三金属层上沉积的材料层,其中该材料层与该第一、第二、和第三金属层一起形成栅极电极。因为该栅极氧化物层和该金属层之间的任何化学反应能够被控制,防止了电容等效氧化物的厚度的变坏和电流的泄漏,并且提供了具有改进的绝缘的半导体器件。

著录项

  • 公开/公告号CN101013723A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-08-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200710006727.0

  • 发明设计人 丁英洙;韩成基;丁炯硕;李炯益;

    申请日2007-02-02

  • 分类号H01L29/78;H01L29/49;H01L21/336;H01L21/283;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人张波

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-12-17 18:59:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-01-26

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L29/78 公开日:20070808 申请日:20070202

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-10-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-08-08

    公开

    公开

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