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反射型光学传感器以及测量面的表面粗糙度检测方法

摘要

本发明提供反射型光学传感器以及测量面的表面粗糙度检测方法。该表面粗糙度测量用传感器的检测精度高且制造成本低廉。反射型光学传感器具有发出单一波长的光的发光器件(2)和对发光器件(2)发出的光具有受光灵敏度的两个受光器件(3f、3n),受光器件(3f、3n)配置成各自的光轴(Xdf、Xdn)成为大致平行,发光器件(2)和受光器件(3f)配置成各自的光轴(Xe)和(Xdf)在从反射型光学传感器(1)离开预定的距离(Fa)的位置(Pxf)交叉,发光器件(2)和受光器件(3n)配置成各自的光轴(Xe)和(Xdn)在从反射型光学传感器(1)离开预定的距离(Ne)的位置(Pxn)交叉。设置反射型光学传感器(1)以使发光器件(2)的光轴(Xe)和受光器件(3f)的光轴(Xdf)交叉的受发光光轴交叉点(Pxf)位于测量点(S),并且使发光器件(2)的光轴(Xe)和受光器件(3f)的光轴(Xdf)相对于测量点(S)处的法线(SN)成为相同角(θ)。

著录项

  • 公开/公告号CN101000236A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-07-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 斯坦雷电气株式会社;

    申请/专利号CN200710001399.5

  • 发明设计人 新野和久;小川文雄;

    申请日2007-01-12

  • 分类号G01B11/30(20060101);G01N21/57(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄纶伟

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-17 18:54:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-01-23

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B11/30 申请公布日:20070718 申请日:20070112

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2009-01-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-18

    公开

    公开

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