半导体在制品分配管理方法及系统

摘要

一种半导体在制品分配管理方法及系统。该方法包括使用计算机执行下列步骤：取得关于即将在制造过程节点中进行处理的多批晶片的信息。通过分析每一批晶片的多个接续的制造过程节点的负荷量来决定哪一批晶片较优先于其它批晶片来处理。针对每一批晶片，根据预先设定的观察时间区间来决定分析接续的制造过程节点的分析数目。