首页> 中国专利> 共焦点显微镜及采用它的荧光测量方法和偏振光测量方法

共焦点显微镜及采用它的荧光测量方法和偏振光测量方法

摘要

本发明的共焦点显微镜以及利用它的荧光测量方法和偏振光测量方法,它具有:入射光学系统(10、10′),使偏振光从照明光源(11)经过把微透镜阵列(21)配置在上部的矩阵式液晶器件(22)和物物(23)而入射到被观察物2内;检测光学系统(30、30′),检测从被观察物来的反射光或荧光;以及液晶控制部(52),控制液晶器件(22),其特征在于:使每个透射了微透镜阵列(21)的微透镜的光透射液晶器件(22)的各像素(22a),利用物镜(23)使多个焦点(24)形成在被观察物(2)上,并且,利用液晶控制部(52)来对透射液晶器件(22)的各像素的光的偏振光方向进行控制,使透射各像素的光的偏振光方向互相垂直。

著录项

  • 公开/公告号CN1991335A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 独立行政法人科学技术振兴机构;

    申请/专利号CN200710001810.9

  • 发明设计人 林照刚;前川克广;柴田隆行;

    申请日2003-09-18

  • 分类号G01N21/21;G01N21/64;G02B21/00;

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人胡建新

  • 地址 日本埼玉县

  • 入库时间 2023-12-17 18:46:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-01-13

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-08-29

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号