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电路板特性阻抗测量方法及系统

摘要

一种电路板特性阻抗测量方法及系统,应用在对一电路板进行一特性阻抗测量程序,该电路板特性阻抗测量系统至少包括:一电路板定位模块、一探针模块、一阻抗测量仪器模块以及一品管判别模块;本发明的电路板特性阻抗测量方法及系统预先在待测的电路板上设定一组测量触点;并在实际进行测量时,将一组探针接触到这些测量触点上,令阻抗测量仪器自动测量出该电路板的特性阻抗值,并将实际测量到的特性阻抗值与客户规格所要求的特性阻抗值作比较;若不相符合,则即将该电路板退回给制造部门;在微波线路电路板的制造上,本发明可快速检验出制成的微波线路电路板的特性阻抗是否符合客户所要求的值,确保制成的电路板的品质性及可用性。

著录项

  • 公开/公告号CN1940580A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-04-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英业达股份有限公司;

    申请/专利号CN200510107993.3

  • 发明设计人 金新国;范文纲;

    申请日2005-09-30

  • 分类号G01R27/28;G01R31/00;

  • 代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 台湾省台北市

  • 入库时间 2023-12-17 18:29:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-11-26

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-05-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-04-04

    公开

    公开

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