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非接触测试和诊断不探查节点上的开路连接的方法和装置

摘要

本发明提出了一种方法和装置,用于利用电容引线框架技术来检测电气设备的被测不探查节点上的开路缺陷。根据本发明的方法,利用已知的源信号来激励与被测不探查节点相邻的被探查节点。容性感测探针的传感器被容性耦合到至少电气设备的被测不探查节点和被探查节点,而耦合到容性感测探针的测量设备测量在探针的传感器和至少电气设备的不被探查节点和被探查节点之间的容性耦合信号。基于该容性感测信号的值、已知的预期的“无缺陷”容性感测信号测量结果、和/或已知的预期的“开路”容性感测信号测量结果,来判断电气设备的被测不探查节点上是否存在开路缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN1892242A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 安捷伦科技有限公司;

    申请/专利号CN200610076758.9

  • 申请日2006-04-18

  • 分类号G01R31/04;G01R31/28;

  • 代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人王怡

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 18:04:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-02-10

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-06-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-01-10

    公开

    公开

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