首页> 中国专利> 一种强磁场的霍尔效应测试装置及其测试方法

一种强磁场的霍尔效应测试装置及其测试方法

摘要

本发明设计了一种强磁场的霍尔效应测试装置。该装置由外延片、电磁铁组、恒流源、极性控制电路、可控稳压源、测量电路、计算机、三相交流电、温控装置连接构成。该测试方法步骤:(1)将外延片做好电极,连接好导线;(2)接通三线交流电源,运行计算机控制程序,根据程序要求,依次输入各参数;(3)可以改变样品环境温度,在新的平衡温度下继续测量相关参数;(4)将测量结果存档或者打印出来,测试结束。

著录项

  • 公开/公告号CN1885050A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200510011983.X

  • 发明设计人 张攀峰;吴洁君;胡卫国;刘祥林;

    申请日2005-06-23

  • 分类号G01R31/26(20060101);G01R33/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人段成云

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-12-17 18:04:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-02-11

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-02-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-12-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号