光盘装置、信息记录方法、光盘装置的调整装置、调整方法和制造方法、以及相位偏移量调整方法和调整装置

摘要

本发明涉及具有摆动信号检测电路的光盘装置、信息记录方法、光盘装置的调整装置、调整方法以及制造方法、以及相位偏移量调整方法和调整装置，对滤波电路的输入侧输入基于信息轨道的摆动的摆动信号，检测这时的HPF+LPF路径的输入输出信号间的相位差，根据被检测到的相位差调整记录开始定时信号的相位，从而可以防止滤波电路中的相位偏移的恶劣影响。

说明书

技术领域

本发明涉及光盘装置、信息记录方法、光盘装置的调整装置、调整方法和制造方法、以及相位偏移量调整方法和调整装置。

背景技术

在DVD+R，DVD+RW等光盘中，具有以一定周期摆动(蛇行)的信息轨道，该轨道使用以相位调制方式(PSK方式＝Phase Shift Keying)预先在光盘的基板上螺旋状地形成的结构。

在基于对这样的DVD+R，DVD+RW等光盘的反射光进行光接收的光接收元件，例如，4分割光接收元件的光接收信号检测/作成摆动信号而提供给作成ADIP(Address In Pre-groove)信息等的摆动信号检测电路中，使用图20所示的电路。图示的摆动信号检测电路仅示出根据从4分割光接收元件的各个光接收元件区域得到的电压信号VA～VD生成数字摆动信号和模拟摆动信号为止的前半部分。

首先，通过各个采样保持电路(S/H)100分别对各电压信号VA～VD进行采样保持，通过各个加法器101将VA、VC、VB、VC相加后，通过乘法器102进行0.5倍处理，进行0.5×(VA+VC)，0.5×(VB+VC)的运算。之后，通过平衡AGC电路103取得0.5×(VA+VC)和0.5×(VB+VC)的振幅平衡，通过减法器104进行0.5×(VA+VC)-0.5×(VB+VC)的运算，输入滤波电路105。该滤波电路105由BPF(带通滤波器)106的数字摆动信号用的BPF路径，以及HPF(高通滤波器)107和LPF(低通滤波器)108的模拟摆动信号用的HPF+LPF路径构成。BPF106的输出侧例如设置利用了逆变器的二值化器109。

这里，问题是HPF+LPF路径的LPF108的截止频率fc的离散。保证LPF108的截止频率fc的精度很难，在量产时，电路间的离散很显著。在该截止频率fc离散时，如图21所示，对应其高低，模拟摆动信号的相位也从理想的相位(实线)向前后偏离。在对DVD+RW等光盘记录信息时，由于以模拟摆动信号为基准设定记录开始位置，所以如果模拟摆动信号的相位偏离，则如图22(b)所示，记录开始位置也从最佳位置偏离。

为了解决该问题，例如，按照专利文献1(特开2000-173055公报)，提出了以下方法：在记录完成的盘上进行覆写时，将来自记录完成部的再现数据作为对时钟生成装置的基准信号使用。然后，在重新记录信息的区域中，预先切换到记录完成部中记录的时钟生成用信号，从而使时钟相位匹配，将记录开始位置设定为最佳值。

作为专利文献1以外的方法，有使用在14T搜索帧部设置了6T的镜部(不能写入的反射率高的部分)的盘(以下称为镜盘)，调整到最佳记录位置的方法。该调整方法在镜盘中每次1ECC(DVD的一个记录块)进行记录，在记录结束后，读取该盘而观测RF信号波形(参照图23)。然后，根据RF信号的14T部中心和镜部中心的相位差求最佳记录位置(14T中心和镜部中心一致时记录开始位置为最佳状态)。然后，根据相位差，设定并调整记录开始位置设定参数(以下，设为timeset。参照图24)P1、P2或者P3。即，即使在摆动信号中产生相位延迟，通过调整timeset，可以将记录开始位置设为最佳。

但是，在专利文献1的情况下，仅能在已经存在记录部的光盘中应用。而且，虽然在以正确的记录开始位置进行记录的光盘的情况下良好，但是在具有未能以正确的记录开始位置进行记录的记录部的光盘的情况下，从错误的记录开始位置起开始记录。

而且，后者的情况下的调整方法由于必需使用特殊的盘，所以成本上升。而且，由于必需在盘上实际地记录，实际地再现，确认RF信号的状态，所以调整的时间也大幅度增加。

而且，关于滤波器电路内，例如在由于LPF的截止频率fc的离散而在模拟摆动信号和数字摆动信号之间的相位关系中也产生离散时，因而不能很好地进行乘法处理等，不能得到合适的ADIP信息。其结果，对地址信息和同步信号也产生恶劣的影响。

发明内容

本发明的总的目的是提供解决上述现有技术的问题点的具有摆动信号检测电路的光盘装置、信息记录方法、光盘装置的调整装置、调整方法和制造方法、以及相位偏移量调整方法和调整装置。

本发明的详细的目的是提供不用在事前进行调整工艺等、可以自动地防止滤波电路中的相位偏移造成的恶劣影响的光盘装置和信息记录方法。

本发明的详细的目的是提供相对地减少成本和时间，可以防止滤波电路中的相位的偏移造成的恶劣影响的光盘装置的调整装置和调整方法。

更具体地说，提供可以不受滤波电路中的相位偏移的影响，将记录开始位置调整为最佳位置，或者以最佳的状态解调ADIP信息的具有摆动信号检测电路的光盘装置、信息记录方法、光盘装置的调整装置、调整方法和制造方法、以及相位偏移量调整方法和调整装置。

为了达到这些目的，技术方案1记载的发明是一种光盘装置，通过对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光来进行信息的记录，包括摆动信号检测电路，该电路具有滤波电路，检测基于所述信息轨道的摆动的摆动信号，从而对ADIP信息进行解调，其特征在于，该光盘装置还包括：相位检测部件，检测输入了所述摆动信号的所述滤波电路的输入输出信号间的相位差；以及调整部件，根据被检测到的相位差，对与所述ADIP信息中包含的同步信号同步的记录开始定时信号的相位进行调整。

技术方案2记载的发明是在技术方案1所述的光盘装置中包括：振幅比检测部件，对输入所述摆动信号的所述滤波电路的输入输出信号间的振幅比进行检测，所述相位差检测部件根据被检测到的所述振幅比来检测所述滤波电路的输入输出信号间的相位差。

技术方案3记载的发明是在技术方案1所述的光盘装置中，所述调整部件通过根据被检测到的相位差使所述同步信号的相位延迟，调整所述记录开始定时信号的相位。

技术方案4记载的发明是在技术方案1所述的光盘装置中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，所述相位差检测部件检测所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案5记载的发明是在技术方案1所述的光盘装置中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，所述相位差检测部件检测所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案6记载的发明是一种光盘装置，通过对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光来进行信息的记录，包括摆动信号检测电路，该电路具有滤波电路，检测基于所述信息轨道的摆动的摆动信号，从而对ADIP信息进行解调，其特征在于，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，所述光盘装置还包括：相位差检测部件，分别检测输入了所述摆动信号的所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差和所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差；以及调整部件，根据被检测到的相位差调整相位，以使得这些带通滤波器路径和高通滤波器+带通滤波器的路径的相位一致。

技术方案7记载的发明是在技术方案6所述的光盘装置中包括：振幅比检测部件，分别检测输入了所述摆动信号的所述带通滤波器路径的输入输出信号间的振幅比和所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的振幅比，所述相位差检测部件根据被检测到的所述振幅比来检测各个输入输出信号间的相位差。

技术方案8记载的发明是在技术方案6所述的光盘装置中，所述相位差检测部件每隔一定定时执行检测动作。

技术方案9记载的发明是在技术方案6所述的光盘装置中，所述相位差检测部件在以CAV方式从再现动作转移到记录动作时执行检测动作。

技术方案10记载的发明是一种信息记录方法，利用光盘装置对信息记录介质进行信息的记录，所述光盘装置包括摆动信号检测电路，该电路具有对具有以一定周期摆动的信息轨道的所述信息记录介质照射光，检测基于所述信息轨道的摆动的摆动信号，从而对ADIP信息进行解调的滤波电路，其特征在于，所述信息记录方法包括以下步骤：信号输入步骤，取得基于所述信息记录介质的所述信息轨道的摆动的摆动信号而使其输入所述滤波电路；相位差检测步骤，检测输入了所述摆动信号的所述滤波电路的输入输出信号间的相位差；以及调整步骤，根据被检测到的相位差，对与所述ADIP信息中包含的同步信号同步的记录开始定时信号的相位进行调整。

技术方案11记载的发明是在技术方案10所述的信息记录方法中还包括：振幅比检测步骤，对输入了所述摆动信号的所述滤波电路的输入输出信号间的振幅比进行检测，在所述相位差检测步骤中，根据被检测到的所述振幅比来检测所述滤波电路的输入输出信号间的相位差。

技术方案12记载的发明是在技术方案10所述的信息记录方法中，所述调整步骤通过根据被检测到的相位差使所述同步信号的相位延迟，调整所述记录开始定时信号的相位。

技术方案13记载的发明是在技术方案10所述的信息记录方法中，利用具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径的所述滤波电路，在所述相位差检测步骤中，检测所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案14记载的发明是在技术方案10所述的信息记录方法中，利用具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径的所述滤波电路，在所述相位差检测步骤中，检测所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案15记载的发明是一种信息记录方法，利用光盘装置对信息记录介质进行信息的记录，所述光盘装置包括摆动信号检测电路，该电路具有对具有以一定周期摆动的信息轨道的所述信息记录介质照射光，检测基于摆动的所述信息轨道的摆动的摆动信号，从而对ADIP信息进行解调的滤波电路，其特征在于，利用具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径的所述滤波电路，所述信息记录方法包括以下步骤：相位差检测步骤，分别检测输入了所述摆动信号的所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差和所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差；以及调整步骤，根据被检测到的相位差调整相位，以使得这些带通滤波器路径和高通滤波器+带通滤波器的路径的相位一致。

技术方案16记载的发明是在技术方案15所述的信息记录方法中包括：振幅比检测步骤，分别检测输入了所述摆动信号的所述带通滤波器路径的输入输出信号间的振幅比和所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的振幅比，在所述相位差检测步骤中，根据被检测到的所述振幅比来检测各个输入输出信号间的相位差。

技术方案17记载的发明是在技术方案15所述的信息记录方法中，在所述相位差检测步骤中，每隔一定定时执行检测动作。

技术方案18记载的发明是在技术方案15所述的信息记录方法中，所述相位差检测步骤在以CAV方式从再现动作转移到记录动作时执行检测动作。

技术方案19记载的发明是一种光盘装置，对信息记录介质进行信息的记录，包括：光拾取器，对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光，对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；同步检测器，检测所述摆动信号中包含的同步信号；编码器，根据所述同步信号决定记录开始定时；以及相位调整电路，将所述同步信号的相位偏移而使其输入所述编码器，其特征在于，该光盘装置包括：比较从所述滤波电路输出的信号和被输入所述滤波电路之前的信号的相位的部件；以及根据该比较结果，调整所述相位调整电路产生的所述同步信号的相位偏移量的部件。

技术方案20记载的发明是一种光盘装置，对信息记录介质进行信息的记录，包括：光拾取器，对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光，对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；第一滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；第二滤波电路，从所述光接收信号中提取基于所述信息轨道的摆动的摆动信号的基本频率分量附近的频率分量；乘法器，将从所述第一滤波电路输出的信号和从所述第二滤波电路输出的信号相乘；相位调整电路，对被输入所述乘法器的两个信号的相位差进行调整；以及信息检测电路，根据来自所述乘法器的输出信号，检测所述摆动信号中包含的信息，其特征在于，所述光盘装置还包括：相位差取得部件，取得从所述第一滤波电路输出的信号和从所述第二滤波电路输出的信号的相位差；以及根据由该相位差取得部件取得的相位差，调整所述相位调整电路产生的被输入所述乘法器的两个信号的相位差的部件。

技术方案21记载的发明是在技术方案20所述的光盘装置中，所述相位差取得部件包括：第一相位差取得部件，取得从所述第一滤波电路输出的信号和被输入该第一滤波电路之前的信号的相位差；以及第二相位差取得部件，取得从所述第二滤波电路输出的信号和被输入该第二滤波电路之前的信号的相位差。

技术方案22记载的发明是一种光盘装置的调整装置，所述光盘装置通过对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光来进行信息的记录，该光盘装置包括摆动信号检测电路，该电路具有滤波电路，检测基于所述信息轨道的摆动的摆动信号，其特征在于，对于所述光盘装置，所述调整装置包括：代替信号输入部件，使所述滤波电路的输入侧输入相当于所述摆动信号的代替信号；相位差检测部件，检测被输入了代替信号的所述滤波电路的输入输出信号间的相位差；调整部件，对应于被检测到的相位差，调整设定根据所述摆动信号规定的记录开始定时信号的相位。

技术方案23记载的发明是在技术方案22所述的光盘装置的调整装置中，所述代替信号输入部件是使与所述摆动信号相当的振幅和频率的正弦波作为代替信号输入的振荡器，所述相位差检测部件是示波器。

技术方案24记载的发明是在技术方案22所述的光盘装置的调整装置中，所述代替信号输入部件和所述相位差检测部件是在与所述摆动信号相当的振幅的正弦波中，一边使频率摆动，一边作为代替信号输入，在与所述摆动信号相当的频率时检测相位差的增益相位分析器。

技术方案25记载的发明是在技术方案22所述的光盘装置的调整装置中，包括：振幅比检测部件，检测被输入了代替信号的所述滤波电路的输入输出信号间的振幅比，所述相位差检测部件根据被检测到的所述振幅比检测所述滤波电路的输入输出信号间的相位差。

技术方案26记载的发明是在技术方案22所述的光盘装置的调整装置中，所述调整部件通过使根据所述摆动信号由所述摆动信号检测电路生成的同步信号的相位对应于被检测到的相位差而延迟，调整设定所述记录开始定时信号的相位。

技术方案27记载的发明是在技术方案22所述的光盘装置的调整装置中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，所述相位差检测部件检测所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案28记载的发明是在技术方案22所述的光盘装置的调整装置中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，所述相位差检测部件检测所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案29记载的发明是在技术方案22所述的光盘装置的调整装置中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，所述相位差检测部件分别检测所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差和所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差，所述调整部件调整设定相位，以使这些带通滤波器路径和高通滤波器+低通滤波器的路径的相位一致。

技术方案30记载的发明是一种光盘装置的调整方法，所述光盘装置通过对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光来进行信息的记录，该光盘装置包括摆动信号检测电路，该电路具有滤波电路，检测基于所述信息轨道的摆动的摆动信号，其特征在于，对于所述光盘装置，所述调整方法包括：代替信号输入步骤，使所述滤波电路的输入侧输入相当于所述摆动信号的代替信号；相位差检测步骤，检测被输入了代替信号的所述滤波电路的输入输出间的相位差；调整步骤，对应于被检测到的相位差，调整设定根据所述摆动信号规定的记录开始定时信号的相位。

技术方案31记载的发明是在技术方案30所述的光盘装置的调整方法中，在所述代替信号输入步骤中，使与所述摆动信号相当的振幅和频率的正弦波作为代替信号输入的振荡器，在所述相位差检测步骤中使用示波器。

技术方案32记载的发明是在技术方案30所述的光盘装置的调整方法中，在所述代替信号输入步骤和所述相位差检测步骤中，使用在与所述摆动信号相当的振幅的正弦波中，一边使频率摆动，一边作为代替信号输入，在与所述摆动信号相当的频率时检测相位差的增益相位分析器。

技术方案33记载的发明是在技术方案30所述的光盘装置的调整方法中，包括：振幅比检测步骤，检测被输入了代替信号的所述滤波电路的输入输出信号间的振幅比，在所述相位差检测步骤中，根据被检测到的所述振幅比检测所述滤波电路的输入输出信号间的相位差。

技术方案34记载的发明是在技术方案30所述的光盘装置的调整方法中，在所述调整步骤中，通过使根据所述摆动信号由所述摆动信号检测电路生成的同步信号的相位对应于被检测到的相位差而延迟，调整设定所述记录开始定时信号的相位。

技术方案35记载的发明是在技术方案30所述的光盘装置的调整方法中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，在所述相位差检测步骤中，检测所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案36记载的发明是在技术方案30所述的光盘装置的调整方法中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，在所述相位差检测步骤中，检测所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差。

技术方案37记载的发明是在技术方案30所述的光盘装置的调整方法中，所述滤波电路具有生成数字摆动信号用的带通滤波器路径，以及生成模拟摆动信号用的高通滤波器+低通滤波器的路径，所述相位差检测步骤分别检测所述带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差和所述高通滤波器+低通滤波器的路径的输入输出信号间的相位差，所述调整步骤调整设定相位，以使这些带通滤波器路径和高通滤波器+低通滤波器的路径的相位一致。

技术方案38记载的发明是一种光盘装置的制造方法，该光盘装置对所述信息记录介质进行信息的记录，包括：光拾取器，通过对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；同步检测器，检测所述摆动信号中包含的同步信号；编码器，根据所述同步信号决定记录开始定时；以及相位调整电路，将所述同步信号的相位偏移而使其输入所述编码器，其特征在于，该方法包括以下步骤：将与进行信息记录时提取的所述摆动信号的基本频率分量相同周期的测试信号输入到所述滤波电路的步骤；比较从所述滤波电路输出的测试信号和被输入到所述滤波电路之前的测试信号的相位差的步骤；以及根据该比较结果，调整所述相位调整电路产生的所述相位偏移量的步骤。

技术方案39记载的发明是一种光盘装置的制造方法，该光盘装置包括：光拾取器，对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光，对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；第一滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；第二滤波电路，从所述光接收信号中提取基于所述信息轨道的摆动的摆动信号的基本频率分量附近的频率分量；乘法器，将从所述第一滤波电路输出的信号和从所述第二滤波电路输出的信号相乘；相位调整电路，对被输入所述乘法器的两个信号的相位差进行调整；以及信息检测电路，根据来自所述乘法器的输出信号，检测所述摆动信号中包含的信息，其特征在于，所述方法包括以下步骤：将与进行信息记录时提取的所述摆动信号的基本频率分量相同周期的测试信号输入到所述第一滤波电路和所述第二滤波电路的步骤；取得从所述第一滤波电路输出的测试信号和从所述第二滤波电路输出的测试信号的相位差的相位差取得步骤；以及根据通过该相位差取得步骤取得的相位差，通过所述相位调整电路调整被输入到所述乘法器的两个信号的相位差的步骤。

技术方案40记载的发明是在技术方案39所述的光盘装置的制造方法中，所述相位差取得步骤包括：第一相位差取得步骤，取得从所述第一滤波电路输出的测试信号和被输入该第一滤波电路之前的测试信号的相位差；以及第二相位差取得步骤，取得从所述第二滤波电路输出的测试信号和被输入该第二滤波电路之前的测试信号的相位差。

技术方案41记载的发明是一种相位偏移量调整方法，对光盘装置中的相位偏移量进行调整，该光盘装置包括：光拾取器，对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光，对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；同步检测器，检测所述摆动信号中包含的同步信号；编码器，根据所述同步信号决定记录开始定时；以及相位调整电路，将所述同步信号的相位偏移而使其输入所述编码器，其特征在于，该方法包括以下步骤：将与进行信息记录时提取的所述摆动信号的基本频率分量相同周期的测试信号输入到所述滤波电路的步骤；比较从所述滤波电路输出的测试信号和被输入到所述滤波电路之前的测试信号的相位差的步骤；以及根据该比较结果，调整所述相位调整电路产生的所述同步信号的所述相位偏移量的步骤。

技术方案42记载的发明是一种相位偏移量调整方法，对光盘装置中的相位偏移量进行调整，该光盘装置包括：光拾取器，对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光，对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；第一滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；第二滤波电路，从所述光接收信号中提取基于所述信息轨道的摆动的摆动信号的基本频率分量附近的频率分量；乘法器，将从所述第一滤波电路输出的信号和从所述第二滤波电路输出的信号相乘；相位调整电路，对被输入所述乘法器的两个信号的相位差进行调整；以及信息检测电路，根据来自所述乘法器的输出信号，检测所述摆动信号中包含的信息，其特征在于，所述方法包括以下步骤：将与进行信息记录时提取的所述摆动信号的基本频率分量相同周期的测试信号输入到所述第一滤波电路和所述第二滤波电路的步骤；取得从所述第一滤波电路输出的测试信号和从所述第二滤波电路输出的测试信号的相位差的相位差取得步骤；以及根据该相位差取得步骤取得的相位差，通过所述相位调整电路调整被输入到所述乘法器的两个信号的相位差的步骤。

技术方案43记载的发明是在技术方案42所述的相位偏移量调整方法中，所述相位差取得步骤包括：第一相位差取得步骤，取得从所述第一滤波电路输出的测试信号和被输入该第一滤波电路之前的测试信号的相位差；以及第二相位差取得步骤，取得从所述第二滤波电路输出的测试信号和被输入该第二滤波电路之前的测试信号的相位差。

技术方案44记载的发明是一种相位偏移量调整装置，对光盘装置中的相位偏移量进行调整，该光盘装置包括：光拾取器，对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；同步检测器，检测所述摆动信号中包含的同步信号；编码器，根据所述同步信号决定记录开始定时；以及相位调整电路，将所述同步信号的相位偏移而使其输入所述编码器，其特征在于，该相位偏移量调整装置包括：将与进行信息记录时提取的所述摆动信号的基本频率分量相同周期的测试信号输入到所述滤波电路的部件；比较从所述滤波电路输出的测试信号和被输入到所述滤波电路之前的测试信号的相位差的部件；以及根据该比较结果，调整所述相位调整电路产生的所述同步信号的所述相位偏移量的部件。

技术方案45记载的发明是一种相位偏移量调整装置，对光盘装置中的相位偏移量进行调整，该光盘装置包括：光拾取器，对具有以一定周期摆动的信息轨道的信息记录介质照射光，对该信息记录介质反射的光进行光接收并输出与其光接收量对应的光接收信号；第一滤波电路，从所述光接收信号中除去基于所述信息轨道的摆动的摆动信号中的噪声；第二滤波电路，从所述光接收信号中提取基于所述信息轨道的摆动的摆动信号的基本频率分量附近的频率分量；乘法器，将从所述第一滤波电路输出的信号和从所述第二滤波电路输出的信号相乘；相位调整电路，对被输入所述乘法器的两个信号的相位差进行调整；以及信息检测电路，根据来自所述乘法器的输出信号，检测所述摆动信号中包含的信息，其特征在于，所述相位偏移量调整装置包括：将与进行信息记录时提取的所述摆动信号的基本频率分量相同周期的测试信号输入到所述第一滤波电路和所述第二滤波电路的部件；取得从所述第一滤波电路输出的测试信号和从所述第二滤波电路输出的测试信号的相位差的相位差取得部件；以及根据该相位差取得部件取得的相位差，通过所述相位调整电路调整被输入到所述乘法器的两个信号的相位差的部件。

技术方案46记载的发明是在技术方案45所述的相位偏移量调整装置中，所述相位差取得部件包括：第一相位差取得部件，取得从所述第一滤波电路输出的测试信号和被输入该第一滤波电路之前的测试信号的相位差；以及第二相位差取得部件，取得从所述第二滤波电路输出的测试信号和被输入该第二滤波电路之前的测试信号的相位差。

按照本发明，由于检测输入了摆动信号的滤波电路的输入输出信号间的相位差，并根据被检测到的相位差调整与同步信号同步的记录开始定时信号的相位，所以可以不受滤波电路中的相位偏移的影响，从最佳的记录开始位置进行记录动作。

而且，按照本发明，由于分别检测输入了摆动信号的带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差和高通滤波器+低通滤波器路径的输入输出信号间的相位差，并调整相位，使这些带通滤波器路径和高通滤波器+低通滤波器路径的相位一致，所以可以以最佳的状态对ADIP信息进行解调。

特别是，通过每隔一定定时进行这些检测/调整动作，可以不受电源电压变动和温度变化等的影响，始终从最佳的记录开始位置进行记录动作，并且在最佳的状态下对ADIP信息进行解调。而且，由于在以CAV(角速度一定)方式下的再现时再现速度变化，所以摆动信号的频率当然也变化，并且最佳的调整值也变化，但是通过在从CAV方式下的再现到记录动作转移时进行这些检测/调整动作，可以从最佳的记录开始位置进行记录动作，并且在最佳的状态下对ADIP信息进行解调。

按照本发明，对滤波电路的输入侧输入与摆动信号相当的代替信号，检测这时的滤波电路的输入输出信号间的相位差，并根据被检测出的相位差调整设定基于摆动信号规定的记录开始定时信号的相位，所以每个光盘装置不需要实际地对光盘进行记录/再现动作，可以进行用于使记录开始位置最佳化的调整。

而且，按照本发明，由于分别检测带通滤波器路径的输入输出信号间的相位差和高通滤波器+低通滤波器路径的输入输出信号间的相位差，调整相位，使这些带通滤波器路径和高通滤波器+低通滤波器路径的相位一致，所以可以以最佳状态对ADIP信息进行解调。

特别是，技术方案30至37记载的光盘装置的调整方法，除了可以在该光盘装置的制造阶段进行，而且，也可以在输出到市场后的维护时等进行。

本发明的其它目的，特征和优点可以通过一边参照附图，一边读取以下的详细的说明来进一步明了。

附图说明

图1(a)、图1(b)是与光盘的信息轨道有关的示意的说明图。

图2是表示光盘装置的结构例的概要图。

图3(a)、图3(b)是表示光接收器结构的正视图。

图4(a)、图4(b)是表示光接收器结构的侧面图。

图5是表示I/V放大器结构的概略电路图。

图6是表示摆动信号检测电路等的结构例的方框图。

图7(a)-图7(o)是表示各部分的动作信号例的波形图。

图8是提取并表示摆动信号检测电路的一部分的概略方框图。

图9是表示输入输出信号间的相位差和延迟时间的关系的特性图。

图10是表示一部分的动作信号例的波形图。

图11是表示与相位差检测方式有关的其它实施方式的结构例的概略方框图。

图12是提取并显示本发明的另一个实施方式的摆动信号检测电路的一部分的概略方框图。

图13(a)～图13(c)是表示相关的信号间的相位关系的波形图。

图14是提取并显示另一个实施方式的摆动信号检测电路的一部分的概略方框图。

图15是提取并表示摆动信号检测电路的一部分的概略方框图。

图16是表示与代替信号输入部件和相位差检测部件有关的另一个实施方式的结构例的概略方框图。

图17是提取并显示本发明的另一个实施方式的摆动信号检测电路的一部分的概略方框图。

图18是表示光盘装置的制造方法的概略流程图。

图19是表示调整专用机的结构例的概略方框图。

图20是表示以往的摆动信号检测电路的一部分的结构例的概略方框图。

图21是表示对应于截止频率fc的离散的信号特性的波形图。

图22(a)、图22(b)是表示记录开始位置偏移的样子的说明图。

图23(a)、图23(b)是表示RF信号波形的样子的说明图。

图24是表示调整动作例的波形图。

具体实施方式

以下，根据图1至图19说明用于实施本发明的最佳方式。本实施方式表示对将可进行信息的记录的例如DVD+RW等那样的光盘(信息记录介质)1作为对象，并具有摆动信号检测电路的光盘装置的应用例。而且，关于光盘1，如图1(a)所示，具有以一定周期进行摆动(蛇行)的信息轨道2，作为该信息轨道2，如图1(b)所示，使用以相位调制方式(PSK方式＝Phase ShiftKeying)预先在光盘1的基板上螺旋状地形成的轨道。在图1(a)中，用黑色表示的部分是记录标记3的例子。

图2是表示具有摆动信号检测电路的本实施方式的光盘装置10的结构例的概略图。该光盘装置10具有：用于旋转驱动光盘1的主轴电机11、光拾取器装置12、激光控制电路13、编码器14、电机驱动器15、模拟信号处理电路16、解码器17、伺服控制器18、缓冲RAM19、D/A转换器20、缓冲管理器21、接口22、ROM23、CPU24、RAM25等。而且，图2所示的箭头表示代表性的信号和信息的流动，不表示全部各块的连接关系。

光拾取器装置12内置以下部件：作为光源的半导体激光器；将从该半导体激光器射出的光束导入光盘1的记录面，同时将由该记录面反射的返回光束导入至规定的光接收位置的光学系统；配置在光接收位置而对返回光束进行光接收的光接收器；以及驱动系统等(聚焦致动器、寻迹致动器、搜索电机等)(任何一个都未图示)。

作为一例，光拾取器装置12中的光接收器如图3(a)所示，包含4分割光接收元件30(第1～第4光接收元件30a～30d)而构成。而且，在图3(a)中，为了方便，将纸面上下方向设为X轴方向，将纸面左右方向设为Y轴方向，将纸面垂直方向设为Z轴。第1、第2光接收元件30a、30b具有分别将图3(a)中的纸面左右方向(Y轴方向)设为长边的相同的长方形形状，并且在纸面上下方向(X轴方向)相邻配置。而且，第3、第4的光接收元件30c、30d具有分别将图3(a)中的纸面左右方向(X轴方向)设为长边的相同的长方形形状，并且在纸面左右方向(Y轴方向)相邻配置。

如图3(b)所示，来自光盘1的记录面的反射光RB通过构成光拾取器装置12的光学系统的棱镜31向两个方向分支，透过了棱镜31的一个反射光RB 1被照射到第1、第2光接收元件30a、30b。而且，通过棱镜31被分支到-X轴方向的另一个反射光RB2进一步通过反射镜32将其前进方向向+Z方向弯曲，并被照射到第3、第4光接收元件30c、30d上。

这里，如图4(a)所示，在反射光RB中，图4(a)中的纸面上侧一半的反射光RBa被照射到第1光接收元件30a，纸面下侧一半的反射光RBb被照射到第2光接收元件30b。而且，如图4(b)所示，在反射光RB中，图4(b)中的纸面右侧一半的反射光RBc被照射到第3光接收元件30c，纸面左侧一半的反射光RBd被照射到第4光接收元件30d。这些第1～第4光接收元件30a～30d的每一个进行光电变换，作为光电变换信号，将对应于光接收量的电流(电流信号)输出到模拟信号处理电路16。

而且，光接收器不限于4分割光接收元件30，例如，也可以是包含第1、第2光接收元件30a、30b的2分割光接收元件结构，或者是包含第3、第4光接收元件30c、30d的2分割光接收元件结构，或者也可以是使第1～第4光接收元件30a～30d并行设置为1列的结构等，可以任意包含形状、配置等。

返回图1，模拟信号处理电路16包括：将作为光拾取器装置12的光接收元件30a～30d的输出信号的电流信号变换为电压信号的I/V放大器(电流-电压变换放大器)26，检测摆动信号的摆动信号检测电路27、检测包含再现信号的RF信号的RF信号检测电路28、以及检测聚焦差错信号或寻迹差错信号的差错信号检测电路29等。

I/V放大器26如图5所示，具有将来自第1～第4光接收元件30a～30d的电流信号变换为电压信号(信号Sa～Sd)的I/V放大器26a～26d。

而且，在RF信号检测电路28中，将这些电压信号Sa～Sd全部相加，并进一步将其相加结果二值化，作为RF信号检测。

在差错信号检测电路29中，求电压信号Ra、Rb的差分，将其结果二值化，作为聚焦差错信号检测，求电压信号Rc、Rd的差分，将其结果二值化，作为寻迹差错信号检测。这里，被检测出的这些聚焦差错信号和寻迹差错信号从各个差错信号检测电路29被输出到伺服控制器18。

在摆动信号检测电路27中，基于电压信号Sc、Sd检测摆动信号，输出到解码器17。而且，对于该摆动信号检测电路27的结构等在后面叙述。

在解码器17中，从通过摆动信号检测电路27检测到的摆动信号中包含的ADIP信息中提取地址信息、同步信号等。这里，被提取出的地址信息被输出到CPU24，同步信号被输出到编码器14。

在解码器17中，还对由RF信号检测电路28检测到的RF信号进行解调和差错校正处理等的再现处理。进而，在解码器17中，在再现数据是音乐数据以外(例如，图像数据和文本数据等)的情况下，根据附加在数据中的检查码进行差错检查和差错校正处理，经由缓冲管理器21存储在缓冲RAM19中。

在伺服控制器18中，根据由差错信号检测电路29检测到的聚焦差错信号作成用于控制光拾取器装置12的聚焦致动器的控制信号，输出到电机驱动器15。而且，在伺服控制器18中，根据由差错信号检测电路29检测到的寻迹差错信号作成用于控制光拾取器装置12的寻迹致动器的控制信号，输出到电机驱动器15。

在D/A转换器20中，在光盘1中记录的数据是音乐数据的情况下，将解码器17的输出信号变换为模拟信号，作为音频信号输出到音频设备等。

在缓冲管理器21中，管理对缓冲RAM19的数据的存储，并在被存储的数据量达到规定值时通知CPU24。

在电机驱动器15中，根据来自伺服控制器18的控制信号，驱动光拾取器装置12的聚焦致动器和寻迹致动器。而且，在电机驱动器15中，根据CPU24的指示控制主轴电机11，使得光盘1的线速度一定(CLV方式)或者转速一定(CAV方式)。进而，在电机驱动器15中，根据CPU24的指示驱动寻迹电机，控制光拾取器装置12的垂直方向(光盘1的半径方向)的位置。

在编码器14中，对于存储在缓冲RAM19中的数据进行差错校正码的附加等，作成对光盘1的写入数据。然后，根据来自CPU24的指示，使其与来自解码器17的同步信号同步，将写入数据输出到激光控制电路13。

在激光控制电路13中，根据来自编码器14的写入数据，控制光拾取器装置12中的半导体激光器的输出。然后在激光控制电路13中，在记录中将与标记记录期间和间隔记录期间同步的定时信号输出到摆动信号检测电路27。

接口22是与主机(例如，个人计算机)进行双方向的通信的接口，符合ATAPI(At Attachment Packet Interface)、SCSI(Small Computer SystemInterface)等标准接口。

在CPU24中，按照存储在ROM23中的程序控制如上所述的各部的动作，同时，将控制所需要的数据等暂时存储在RAM25中。

接着，参照图6对摆动信号检测电路27和其输出侧的结构例进行说明。首先，设置输入来自I/V放大器26c、26d的电压信号Sc、Sd的采样保持电路(S/H)41a、41b，在这些S/H41a、41b的输出侧设置对采样保持后的电压信号Sc、Sd的振幅取平衡的平衡AGC42。

在平衡AGC42的输出侧设置对采样保持后的电压信号Sc、Sd的差Sc-Sd进行运算的减法器43。在该减法器43的输出侧设置滤波电路44。该滤波电路44由BPF(带通滤波器)45构成的数字摆动信号用的BPF路径、以及HPF(高通滤波器)46和LPF(低通滤波器)47构成的模拟摆动信号用的HPF+LPF路径构成。

在BPF45的输出侧例如设置利用了逆变器的二值化器48。BPF45允许通过的频带是摆动信号的载波(摆动信号中的相位调制部分以外的部分)的频率，即，摆动信号的基本频率附近的受限的频带。因此，通过BPF45从摆动信号降低相位调制分量和噪声，容易作成与摆动信号的载波分量相当的信号。

该与载波分量相当的信号在以CLV方式使光盘1旋转的情况下为一定的频率。另一方面，通过了HPF46和LPF47的信号为去除了高频噪声分量和低频噪声分量的摆动信号。而且，在仅用LPF47就可以在用于取得ADIP信息的允许范围内去除噪声的情况下，也可以省略HPF46。

对于从二值化器48得到的数字摆动信号，依次设置用于使其频率稳定的PLL电路49和定时调整用的延迟电路(delay)50，进而，设置产生与数字摆动信号同相位的正弦波(sin波)的sin波发生电路51。

另一方面，设置将从LPF47得到的模拟摆动信号变换为数字数据的A/D变换器52。设置将由该A/D变换器52进行了A/D变换的模拟摆动信号和变换为正弦波的数字摆动信号相乘的乘法器53。在该乘法器53的输出侧设置对相乘结果进行积分的积分器54。该积分器54被设定为通过来自产生并输出与PLL电路49输出(延迟电路50输出)同步的定时信号的定时电路55的复位信号，以摆动的一个周期单位被复位。

在积分器54的输出侧经由采样保持电路(S/H)56设置ADIP信息检测器57。

在该ADIP信息检测器57上连接解码器17。该解码器17具有根据ADIP信息检测同步信号ADIPsync(检测摆动信号的相位调制)的同步检测器61、进行差错校正处理的差错校正部62和根据差错校正后的ADIP信息提取地址信息的地址信息提取部63。

通过同步检测器61检测到的同步信号ADIPsync在通过作为偏移并输出输入信号的相位的相位调整电路的延迟电路64后，被输入编码器14，被提供产生写定时信号(记录开始定时信号)。在该编码器14中，还从CPU24以规定定时输入写命令(或者读命令)，所以，激光控制电路13被设定为在存在写命令的状态下产生写定时信号时开始记录动作。

在这样的结构中，参照图7所示的波形图说明摆动信号检测电路27附近的信号处理例的概要。首先，作为I/V放大器26c、26d的输出的电压信号Sc、Sd通过S/H41a、41b被采样保持，通过平衡AGC42取采样保持后的振幅平衡，通过减法器43进行Sc(S/H后)-Sd(S/H后)的运算。

在光盘1上的摆动信号WBL＝S1(参照图7(a))实际上不能以原本的状态把握，所以将振幅平衡、运算处理后的Sc(S/H后)-Sd(S/H后)被设为介质上的摆动信号WBL＝S1。该摆动信号WBL＝S1被输入滤波电路44，一方面，通过经过HPF46和LPF47的路径，生成如图7(b)所示的模拟摆动信号S2，另一方面，通过经过BPF45的路径，生成用于生成如图7(c)所示的基本频率分量构成的信号的摆动信号S3，进而，通过经过二值化器48被二值化，生成如图7(d)所示的数字摆动信号S4。

该数字摆动信号S4通过用于产生规定的周期的稳定的信号的PLL电路49，通过作为相位调整电路的延迟电路50被施加dlyclock的延迟，作为图7(e)所示的数字摆动信号S5被输入到sin波发生电路51。在sin波发生电路51中，如图7(f)所示，生成与数字摆动信号S5同相位的sin波S6。

然后，将由A/D变换器52进行A/D变换的模拟摆动信号S2和被变换为sin波S6的数字摆动信号通过乘法器53相乘，如图7(g)所示的相乘结果的信号S7通过积分器54被积分，得到如图7(h)所示的积分结果信号S8。该积分结果信号S8通过S/H56被采样保持，从而作为如图7(i)所示的信号S9被输入到ADIP信息检测器57。

在ADIP信息检测器57中，根据该信号S9，检测包含如图7(j)所示的地址信息和同步信号的ADIP信息S10。在输入该ADIP信息S10的解码器17中，同步检测器61输出如图7(k)所示的ADIP同步信号ADIPsync＝S11。ADIP同步信号ADIPsync＝S11在通过作为偏移并输出输入信号的相位的相位调整电路的延迟电路64后，成为ADIP同步信号ADIPsync＝S12，被输入编码器14。在编码器14中，根据该ADIP同步信号ADIPsync＝S12作成写定时信号S13，在取来自CPU24的写命令S14的“与”条件下，通过激光控制电路13开始记录。

而且，在同步信号ADIPsync和写定时信号之间，设采用一定的时间间隔e(例如，16wbl周期＝32T×15等)。而且，同步信号ADIPsync和写定时信号每1ADIP时间(＝93wb1周期＝32T×93)一次，为L→H→L，作为1ADIP时间的开头的相位调制部为H(图7中所示的#0)。

在这样的动作中，在滤波电路44的滤波处理前，即，在信号S1的时刻中，没有对相位解调等产生影响的程度的相位偏移。但是，在滤波电路44的滤波处理后，例如由于LPF47部的截止频率fc的离散，在模拟摆动信号的相位中产生偏移，在写定时信号S13的产生定时中产生偏移，记录开始位置有可能从最佳位置偏移。在图7(b)中的a表示LPF47引起的相位延迟。

因此，在本实施方式中，附加将滤波电路44中的相位偏移引起的记录开始位置的偏移调整到最佳位置的调整功能。如果参照提出并显示摆动信号检测电路27的一部分的图8，则在本实施方式中，输入来自光盘1的摆动信号S1的滤波电路44在这里被构成为，设置作为检测HPF46和LPF47的路径的输入输出前后的信号的相位差的相位差检测部件的相位比较器65，例如，检测与图7(b)所示的相位延迟a相当的相位差。

另一方面，在光盘装置10中构成为，作为用于适当调整影响写定时信号S13的定时的同步信号ADIPsync＝S11的相位的调整部件的延迟电路(delay)64被设置在同步检测器61和编码器14之间，通过延迟电路64的延迟时间timeset(记录开始位置设定参数)的设定可以任意地进行相位调整。

这里，HPF46和LPF47的路径的输入输出前后的信号的相位差和延迟时间timeset之间为图9所示的比例关系。而且，图9所示的比例关系，例如是可通过将镜盘每次1ECC一边改变timeset一边记录，并进行再现该部分等的测量来简单地作成的关系，通过预先求这样的比例关系，根据由相位比较器65检测出的相位差来调整设定延迟电路64的延迟时间timeset，可以使写定时信号S13的定时最佳化。

这里，对于基于由相位比较器65检测出的相位差的记录定时的调整设定的细节，以实际记录时的动作例，参照提取图7的一部分显示的图10来进行说明。图10是表示滤波电路44中的HPF46和LPF47中的路径中的相位延迟a、延迟电路64产生的延迟量d和写定时信号S13的关系的波形图。

首先，在HPF46和LPF47的路径中，模拟摆动信号S2的相位延迟部分仅＝相位延迟a，同步检测器61产生的同步信号ADIPsync＝S11的相位也被延迟。然后，延迟电路64产生的延迟处理后的同步信号ADIPsync＝S12的相位仅被延迟以timeset的延迟量d。而且，作为该同步信号ADIPsync＝S12和写定时信号S13的相位关系，设为具有一定间隔e的差。

而且，在标准中规定，摆动信号wbl以93周期为1块，将写开始定时移到wbl#14+24T(wbl#14是从相位调制部wbl#0开始数第15周期的信号，摆动1周期＝32T)的位置。

这里，24T为RF信号的1T×24，例如，盘转速相当于1倍时，1T≈38.5ns，相当于2倍时，1T≈19.2ns，相当于4倍时，1T≈9.6ns，…。而且，如图7所示，由于被检测到的摆动信号相当于光盘1上的实际的摆动信号约延迟1周期，所以，在光盘1上大致从wbl#15+24T的位置起开始记录(图15等的#15为该意思)。

这时，如果a+d+e＝wbl16周期+24bit＝16×32T+24T成立，则写定时信号符合标准。因此，设定调整延迟时间timeset，使得d＝16×32T+24T-a-e就可以。

这样，按照本实施方式，在光盘装置10中，使从光盘1的信息轨道2得到的摆动信号S1输入到滤波电路44的输入侧，通过相位比较器65检测这时的HPF46和LPF47的路径的输入输出前后的信号的相位差，根据被检测到的相位差调整延迟电路64的延迟时间timeset，可以使写定时信号的定时为最佳，所以可以不受滤波电路44中的相位偏移的影响，从最佳的记录开始位置进行记录动作。

特别是，通过每隔一定定时进行这些检测/调整动作，可以不受剧烈的电源电压变动和温度变化等的影响，始终从最佳记录开始位置进行记录动作。而且，在以CAV(角速度一定)方式进行再现时，由于再现速度变化，所以摆动信号的频率当然也变化，最佳的调整值也变化，但是通过在从CAV方式下的再现转移到记录动作时进行这些检测/调整动作，可以从最佳记录开始位置进行记录动作。

而且，在本实施方式中，通过相位比较器65检测HPF46+LPF47路径的输入输出前后的信号的相位差，但是作为另一个实施方式，也可以检测BPF45的输入输出前后的信号的相位差，并根据检测出的相位差调整设定延迟电路64的延迟量timeset。这时，与数字摆动信号的相位一致来调整模拟摆动信号的相位。

而且，在本实施方式中，通过相位比较器65直接地检测滤波电路44的输入输出前后的信号的相位差，但是作为另一个实施方式，例如可以如图11所示，通过振幅比较器(振幅比检测部件)66检测输入了基于信息轨道2的摆动信号S1时的HPF46+LPF47路径的输入输出前后的信号的振幅比a’(＝HPF46+LPF47路径的输出振幅/HPF46+LPF47路径的输入振幅)，根据该振幅比a’通过相位差检测器(相位差检测部件)67检测相位差(相位延迟)a，调整延迟电路64的延迟时间timeset。

这时，预先测量LPF47的滤波特性，在控制程序中写入对应于该滤波特性的振幅比和相位延迟的关系，在相位差检测器67中利用该关系来由振幅比a’求相位差a就可以。

根据图12和图13说明本发明的另一个实施方式。在本实施方式中，在光盘装置10中，附加了用于消除滤波电路44的相位偏移引起的ADIP信息的解调特性的恶化的调整功能。在图12中，表示仅提取摆动信号检测电路27中的关系部分。

在本实施方式中，在使基于信息轨道2的摆动取得的摆动信号S1输入滤波电路44的情况下，设置检测这时的HPF46+LPF47路径的输入输出前后的信号的相位差a的相位差检测器(相位差检测部件)65a，同时设置检测BPF45路径的输入输出前后的信号的相位差b的相位差检测器(相位差检测部件)65b，根据这些相位差比较器65a、65b的检测结果调整作为被设置在PLL电路49的后级的调整部件的延迟电路50的延迟时间dlyclock，使得两个路径的相位一致。

图13是表示滤波处理前的摆动信号S1的相位、经过了LPF47等的模拟摆动信号S2的相位和经过了BPF45的数字摆动信号S3(在二值化器48的数字化之前)的相位的关系的波形图。在HPF46+LPF47路径中，模拟摆动信号S2的相位仅延迟a，在BPF45路径中数字摆动信号S3的相位仅延迟b。

于是，在通过sin波发生电路51作成sin波状的数字摆动信号之前，可以通过延迟电路50中设定的延迟时间dlyclock具有相当于c的相位延迟(参照图7)。这里，在ADIP解调时，由于通过乘法器53将sin波＝S6和模拟摆动信号S2相乘，所以相乘后的振幅越高，ADIP信息越可以解调。因此，需要使sin波和模拟摆动信号的相位关系为同相位。

因此，在a＝b+c成立时，模拟摆动信号和数字摆动信号的相位关系最同相位，可以进行最正确的ADIP解调。因此，根据相位比较器65a、65b的检测结果，使c＝a-b那样调整延迟电路50的延迟时间dlyclock就可以。

这样，按照本实施方式，在光盘装置10中，由于通过各个相位比较器65a、65b检测对滤波电路44输入了基于光盘1的信息轨道2的摆动取得的摆动信号S1时的HPF46和LPF47的路径的输入输出前后的信号的相位差、BPF45的路径的相位差，并根据被检测到的相位差调整延迟电路50的延迟时间dlyclock，使得两个路径的相位为同相位，从而进行最佳的ADIP解调，所以可以以最佳的状态使ADIP信息解调。

特别是，通过每隔一定的定时进行这些检测/调整动作，所以可以不受剧烈的电源电压变动和温度变化等的影响，始终以最佳的状态使ADIP信息解调。而且，在以CAV(角速度一定)方式进行再现时，由于再现速度变化，所以摆动信号的频率当然也变化，最佳的调整值也变化，但是通过在从CAV方式下的再现转移到记录动作时进行这些检测/调整动作，可以以最佳的状态使ADIP信息解调。

而且，在本实施方式中，通过相位比较器65a、65b直接地检测滤波电路44的各个路径的输入输出前后的信号的相位差，但是作为另一个实施方式，例如也可以如图14所示，通过振幅比较器(振幅比检测部件)66a检测输入了基于信息轨道2的摆动信号S1时的HPF46+LPF47路径的输入输出前后的信号的振幅比a’(＝HPF46+LPF47路径的输出振幅/HPF46+LPF47路径的输入振幅)，根据该振幅a’通过相位差检测器(相位差检测部件)67a检测相位差(相位延迟)a，另一方面，通过振幅比较器(振幅比检测部件)66b检测BPF45路径的输入输出信号间的振幅比b’(＝BPF45路径的输出振幅/BPF45路径的输入振幅)，根据该振幅比b’通过相位差检测器(相位差检测部件)67b检测相位差(相位延迟)b，根据这些相位差a、b调整延迟电路64的延迟时间timeset，使得a＝b+c。

这时，预先测量LPF47、BPF45的滤波特性，在控制程序中写入对应于该滤波特性的振幅比和相位延迟的关系，在相位差检测器67a、67b中利用该关系来由振幅比a’、b’求相位差a、b就可以。

而且，在将BPF45的相位延迟设为b时，在图7等中，表示了LPF47侧的相位延迟a比相位延迟b大的情况的例子，但是不限于此，也可以按照BPF45、HPF46、LPF47的特性而相反，即，也可以是相位延迟b比相位延迟a大的情况。在这样的情况下，仅使数字摆动信号S4的相位偏移c＝b-a的相位延迟(即，这时相位超前)就可以。

而且，在本实施方式中，由延迟电路50使BPF45的输出信号延迟，但也可以取代这样的结构，或者与这样的结构一起，使LPF47的输出信号输入到相位调整电路，调整该相位。而且，也可以直接求LPF47的输出信号和BPF45的输出信号的相位差，仅将延迟电路50的延迟时间dlyclock调整该相位差部分。

进而，在本实施方式中，也可以附加在该光盘装置的制造阶段或者维护时将该记录开始位置调整到最佳的调整功能。如果参照提取并显示摆动信号检测电路27的一部分的图15，则在本实施方式中，对于滤波电路44的输入侧，取代摆动信号S1，例如从振荡器(代替信号输入部件)71输入sin波S21来作为振幅、频率与信息记录时对应的相当于该摆动信号S1的代替信号(测试信号)，这时的滤波电路44，这里为HPF46和LPF47的路径的输入输出前后的信号的相位差例如可以通过示波器(相位差检测部件)72的观测来测量。这里被检测的相位差相当于图7(b)所示的相位延迟a。

另一方面，在光盘装置10中可以构成为，在同步检测器61和编码器14之间设置用于适当调整影响写定时信号S13的定时的同步信号ADIPsync＝S11的相位的延迟电路(delay)64，通过延迟电路64的延迟时间timeset(记录开始位置设定参数)的设定可任意地进行相位调整。这里，在HPF46和LPF47的路径的输入输出信号间的相位差和延迟时间timeset之间存在如图9所示的比例关系。

而且，图9所示的比例关系，例如是使镜盘每次1ECC，一边改变timeset一边记录，可通过进行再现这部分等的测量而简单地作成的关系，预先求这样的比例关系，通过根据示波器(相位差检测部件)72检测到的相位差设定调整延迟电路64的延迟时间timeset，可以使写定时信号S13的定时最佳化。

这里，对于基于被检测到的相位差的记录定时的调整设定的细节，以实际记录时的动作例，参照提取并显示图7的一部分的图10来进行说明。图10是表示滤波电路44中的HPF46和LPF47中的路径中的相位延迟a、延迟电路64产生的延迟量d和写定时信号S13的关系的波形图。

首先，在HPF46和LPF47的路径中，模拟摆动信号S2的相位延迟部分仅＝相位延迟a，同步检测器61产生的同步信号ADIPsync＝S11的相位也被延迟。然后，延迟电路64产生的延迟处理后的同步信号ADIPsync＝S12的相位仅被延迟timeset下的延迟量d。而且，作为该同步信号ADIPsync＝S12和写定时信号S13的相位关系，设为具有一定间隔e的差。而且，在标准中规定，摆动信号wbl以93周期为1块，将写开始定时移到wbl#14+24T(wbl#14是从相位调制部wbl#0开始数第15周期的信号，摆动1周期＝32T)的位置。

这里，24T为RF信号的1T×24，例如，盘转速相当于1倍时，1T≈38.5ns，相当于2倍时，1T≈19.2ns，相当于4倍时，1T≈9.6ns，…。而且，如图7所示，由于被检测到的摆动信号相当于光盘1上的实际的摆动信号约延迟1周期，所以，在光盘1上大致从wbl#15+24T的位置起开始记录(图15等的#15为该意思)。

这时，如果a+d+e＝wbl16周期+24bit＝16×32T+24T成立，则写定时信号符合标准。因此，设定调整延迟时间timeset，使得d＝16×32T+24T-a-e就可以。

这样，按照本实施方式，对于光盘装置10，对滤波电路44的输入侧通过振荡器71输入振幅、频率与摆动信号相当的sin波S21，通过示波器72检测这时的HPF46和LPF47的路径的输入输出前后的信号的相位差，根据被检测到的相位差调整设定延迟电路64的延迟时间timeset，从而写定时信号的定时为最佳，所以每个光盘装置10不需要实际地进行记录/再现动作，可以简单并且合适地进行记录开始位置的最佳化。因此，也可以仅通过利用振荡器71和示波器72简单地实现。

而且，作为另一个实施方式，取代振荡器71和示波器72，虽然没有特别图示，但也可以使用增益相位分析器作为代替信号输入部件和相位差检测部件。即，从增益相位分析器对滤波电路44的输入侧将振幅与摆动信号相当的sin波作为代替信号，一边使其频率摆动一边输入，测量相对于HPF46+LPF47的输入的输出的频率特性。这时的频率特性是“横轴；频率、纵轴；增益和相位”。然后，求频率与摆动信号相当时的相位延迟，将该相位延迟设为前述的a就可以。

在这样利用增益相位分析器的情况下，除了可以容易地实施，而且还可以检查HPF46+LPF47的特性。

而且，在本实施方式中，通过示波器72和相位增益分析器检测HPF46+LPF47的路径输入输出前后的信号的相位差，但是作为另一个实施方式，也可以检测BPF45的输入输出前后的信号的相位差，并根据检测到的相位差调整设定延迟电路64的延迟量timeset。这时，与数字摆动信号的相位一致而调整模拟信号的相位。

而且，在本实施方式中，直接检测滤波电路44的输入输出前后的信号的相位差，但是作为另一个实施方式，例如可以如图16所示，通过振幅比较器(振幅比检测部件)74检测输入了sin波S21等代替信号时的HPF46+LPF47路径的输入输出前后的信号的振幅比a’(＝HPF46+LPF47路径的输出振幅/HPF46+LPF47路径的输入振幅)，根据该振幅比a’通过相位差检测器(相位差检测部件)75检测相位差(相位延迟)a，调整设定延迟电路64的延迟时间timeset。

这时，预先测量LPF47的滤波特性，在控制程序中写入对应于该滤波特性的振幅比和相位延迟的关系，在相位差检测器75中利用该关系来由振幅比a’求相位差a就可以。

根据图13和图17说明本发明的另一个实施方式。在本实施方式中，对于光盘装置10附加在该光盘装置的制造阶段或者维护时等消除相位偏移引起的ADIP信息的解调特性的恶化的调整功能。在图17中，仅提取并表示摆动信号检测电路27的相关部分。

在本实施方式中，对于滤波电路44的输入侧，取代摆动信号S1，例如从振荡器(代替信号输入部件)71输入sin波S21来作为振幅、频率与信息记录时对应的相当于该摆动信号S1的代替信号(测试信号)，这时的HPF46+LPF47的路径的前后的信号的相位差例如可以通过示波器(相位差检测部件)72的观测来测量，同时，BPF45路径的输入输出前后的信号的相位差b例如通过示波器(相位差检测部件)72的观测来测量，根据这些测量结果调整设定作为被设定在PLL电路49的后级的调整部件的延迟电路50的延迟时间dlyclock，使得两个路径的相位一致。

图13是表示滤波处理前的摆动信号S1的相位、经过了LPF47等的模拟摆动信号S2的相位和经过了BPF45的数字摆动信号S3(在二值化电路48的数字化之前)的相位的关系的波形图。

在HPF46+LPF47路径中，模拟摆动信号S2的相位仅延迟a，在BPF45路径中数字摆动信号S3的相位仅延迟b。于是，在通过sin波发生电路51作成sin波状的数字摆动信号之前，可以通过延迟电路50中设定的延迟时间dlyclock具有相当于c的相位延迟(参照图7等)。这里，在ADIP解调时，由于通过乘法器53将sin波＝S6和模拟摆动信号S2相乘，所以相乘后的振幅越高，ADIP信息越可以解调。因此，需要使sin波和模拟摆动信号的相位关系为同相位。

因此，在a＝b+c成立时，模拟摆动信号和数字摆动信号的相位关系最同相位，可以进行最正确的ADIP解调。因此，根据检测结果，使c＝a-b那样调整设定延迟电路50的延迟时间dlyclock就可以。

这样，按照本实施方式，对于光盘装置10，对滤波电路44的输入侧通过振荡器71输入振幅、频率与摆动信号相当的sin波S21，通过示波器72分别检测这时的HPF46和LPF47的路径的输入输出前后的信号的相位差，以及BPF45的路径的相位差，根据被检测到的相位差调整设定延迟电路50的延迟时间dlyclock，以便使两个路径的相位为同相位，所以每个光盘装置10不需要实际地进行记录/再现动作，可以始终以最佳的延迟时间dlyclock进行ADIP解调。因此，也可以仅通过利用振荡器71和示波器72简单地实现。

这时，也可以利用增益相位分析器取代振荡器71和示波器72。而且，也可以依照图16所示的例子，在各个路径检测滤波电路44的输入输出前后的信号的振幅比，并根据被检测出的振幅比检测各个相位差，根据该相位差如上所述那样调整设定延迟电路50的延迟时间dlyclock。

在本实施方式中，通过延迟电路50使BPF45的输出信号延迟，但是也可以取代这样的结构，或者与这样的结构一起，使LPF47的输出信号输入相位调整电路，调整其相位。

图18表示关于包含调整这样的延迟电路50和延迟电路64的延迟时间的步骤的光盘装置10的制造方法的流程图。在该制造步骤中，作为组装步骤，首先将滤波电路44和乘法器53、延迟电路50、64、ADIP信息检测器57、同步检测器61、编码器4等部件组装到框体(未图示)内(S101)。

一系列的组装结束时，接着，转移到进行组装部件间的调整的调整步骤。这里，以本发明的延迟时间的调整步骤为中心进行说明。将如上所述的测试信号输入作为滤波电路44的BPF45、HPF46中(S102)。

在输入了测试信号的状态下，测量并检测输入HPF46的测试信号和从BPF45输出的测试信号的相位差a(S103)。进而，测量并检测输入BPF45的测试信号和从BPF45输出的测试信号的相位差b(S104)。这些相位差的测量/检测方法如上所述。

然后，仅将延迟电路64调整对应于相位差a(或者相位差b)的延迟时间timeset(S105)。由此，可以调整记录定时的偏移。而且，调整延迟电路50的延迟时间dlyclock，以便产生相对于(相位差a-相位差b)的相位差(S106)。由此，可以正确地取得ADIP信息。

而且，还在调整步骤中进行半导体激光器的发光功率的调整(增益调整)等其它调整。

在调整步骤结束时，为检查步骤，对光盘装置10是否正确地动作进行各种公知的检查。由于该检查步骤的结束，光盘装置10的制造也完成。

而且，在不调整延迟电路50的延迟时间的情况下，可以省略步骤S106和步骤S103、S104的任何一个处理。而且，在不进行延迟电路64的延迟电路的调整的情况下，可以省略步骤S105的处理。进而，取代步骤S106的处理，可以求LPF47的输出信号和BPF45的输出信号的相位差，将延迟电路50的延迟时间dlyclock仅调整该相位差部分。

而且，在将BPF45的相位延迟设为b时，在图7等中，表示LPF47侧的相位延迟a比相位延迟b大的情况的例子，但是不限于此，也可以按照BPF45、HPF46、LPF47的特性而相反，即，也可以是相位延迟b比相位延迟a大的情况。在这样的情况下，仅使数字摆动信号S4的相位偏移c＝b-a的相位延迟(即，这时相位超前)就可以。

而且，在上述的说明中，说明了通过使用示波器72和增益相位分析器以手动操作进行延迟时间的调整的例子，但是不限于这样的方法。

即，也可以如图19所示，构成由输出测试信号的振荡器81、具有作为示波器72等的一个功能的相位差检测功能的相位差检测装置82以及控制它们的CPU83和存储了使CPU83执行规定的控制处理的程序的ROM84组合的调整专用机80，根据检测到的相位差自动地调整延迟电路50或者延迟电路64的延迟时间。

或者，也可以构成由输出测试信号的振荡器81、振幅比较器74和相位差检测器75构成的相位差检测装置82、以及控制它们的CPU83和存储了使CPU83执行规定的控制处理的程序的ROM84组合的调整专用机80，根据检测到的相位差自动地调整延迟电路50或者延迟电路64的延迟时间。

在这些情况下，CPU83按照该装置具有的ROM84中存储的程序执行对于与用手动进行的各处理(图18所示的步骤S102～S106)对应的各结构的命令等。即，CPU83对振荡器81发出指令，以输出规定的测试信号(S102)。

与此对应，振荡器81对滤波电路44输出测试信号。接着，CPU83发出指令，使相位差检测装置82检测HPF46的输入侧和LPF47的输出侧的测试信号的相位差a和BPF45的输入输出间的测试信号的相位差b(S103、S104)。相位差检测装置82根据该指令进行相位差a、b的检测。

CPU83将对应于相位差a(或者相位差b)的延迟时间timeset提供给延迟电路64(S105)。进而，CPU83仅将对应于(相位差a-相位差b)的相位差部分的延迟时间dlyclock提供给延迟电路50(S107)。通过进行这样的处理，可以降低滤波电路44的摆动信号的相位偏移的影响。

而且，在不调整延迟电路50的延迟时间的情况下，CPU83可以省略步骤S106和步骤S103、S104的任何一个处理。而且，在不进行延迟电路64的延迟时间的调整的情况下，CPU83可以省略步骤S105的处理。而且，CPU83也可以取代步骤S106的处理，求LPF47的输出信号和BPF45的输出信号的相位差，仅将延迟电路50的延迟时间dlyclock调整该相位差部分。

本发明不限于具体公开的本实施方式，在不超出权利要求的范围内，可以进行各种变形和变更。