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用于避免太阳黑效应的CMOS图像传感器的列模数转换器

摘要

本发明提供了一种用于在CMOS图像传感器(CIS)中避免太阳黑效应的模数(ADC)电路。该ADC电路包括:具有信号电压输入端口和参考电压输入端口的比较器,其在重置采样时段将从多个CIS像素中的一个输出的重置电压与参考电压进行比较,并当所述重置电压低于所述参考电压时输出溢出传感信号;以及将所述比较器的输出转换成数字数据的数字比较器,其中该数字比较器包括第一锁存器,当在重置采样时段的第一部分中比较器输出溢出传感信号时,该第一锁存器存储该溢出信号,并响应于该溢出传感信号,在信号采样时段中输出指示溢出的标志信号。

著录项

  • 公开/公告号CN1812508A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200610006796.7

  • 发明设计人 林秀宪;

    申请日2006-01-28

  • 分类号H04N5/335(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邵亚丽;李晓舒

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-12-17 17:33:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-03-17

    授权

    授权

  • 2008-02-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-08-02

    公开

    公开

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