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三维体积计算层析X射线照相术中的取样方法

摘要

一种三维体积计算层析X射线照相术中的取样方法,包括在平行于旋转轴线的Z方向的相对于病人或物体的移动X射线源的离散元件及检测器。当源旋转通过一次旋转的诸角度时,它同时移动一距离,此距离与Z方向的各个源元件间的离散间距相近。这种小的平行移动设计成使得通过离散源元件排的轴平面与通过离散源元件排之间的轴平面没有什么区别,从而消除了系统的Z从属性(依赖性)及与之有关的取样问题。

著录项

  • 公开/公告号CN1797027A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 利兰.斯坦福初级大学董事会;

    申请/专利号CN200510092558.8

  • 申请日2005-08-23

  • 分类号G01T1/166(20060101);A61M36/00(20060101);G01B15/00(20060101);

  • 代理机构33102 宁波诚源专利事务所有限公司;

  • 代理人张刚

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 17:29:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-07-15

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-09-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-07-05

    公开

    公开

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