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使用瞬态热响应确定构图薄膜金属结构特性的方法

摘要

本发明测量包括多个窄金属区域的一种结构,每个区域设置在包括第二非金属材料的相邻区域之间。该方法的一个步骤是通过利用由激励条形成的空间周期性激励场照射来激励该结构,以生成热光栅。其它步骤是从热光栅衍射出探测激光束,以形成信号束;作为时间的函数,检测信号束,以产生信号波形;并且根据信号波形的热分量,确定该结构的至少一个特性。

著录项

  • 公开/公告号CN1726380A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200380105855.0

  • 发明设计人 M·戈斯泰恩;A·马滋内夫;

    申请日2003-12-10

  • 分类号G01B11/06;G01B21/08;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘红

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2023-12-17 16:55:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-20

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2006-03-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-01-25

    公开

    公开

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