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检测光收发结构良莠的方法及装置

摘要

光收发结构良莠的检测方法与检测装置。首先耦合一量测光纤的一端与一光收发结构。然后,固定此量测光纤与此光收发结构于一固定结构上,且此量测光纤穿过一界定结构的一中空部位。此中空部位定义一量测区域。然后,在此量测区域内移动此量测光纤,并量测此量测光纤内部所传递的光信号的强度变化。最后,以前述强度变化判断此光收发结构的良莠。检测装置则包含固定结构、界定结构以及检测结构。

著录项

  • 公开/公告号CN1671085A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台达电子工业股份有限公司;

    申请/专利号CN200410039694.6

  • 发明设计人 古文豪;邓伟明;林帝宽;

    申请日2004-03-16

  • 分类号H04B10/08;

  • 代理机构隆天国际知识产权代理有限公司;

  • 代理人王铮

  • 地址 中国台湾

  • 入库时间 2023-12-17 16:33:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-06-03

    专利权的视为放弃

    专利权的视为放弃

  • 2005-11-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-09-21

    公开

    公开

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