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荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法

摘要

荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法,一种方法是将进行发光特性测量后的载片叠加在测量反射光谱特性的载片上,盖上玻璃片,再进行反射光谱特性的测量;另一种方法是将荧光粉样品装入通用载片上的凹槽内,进行发光特性的测量,测量完成后,盖上玻璃片,再进行反射光谱特性的测量。该方法使发光特性和反射光谱特性的测量一次完成,从而降低制样费用,减轻了检测工的劳动量,提高检测工作效率,减轻了检测废弃荧光粉对环境的污染。

著录项

  • 公开/公告号CN1664565A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 彩虹集团电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200510041908.8

  • 发明设计人 傅红梅;张东宏;

    申请日2005-04-07

  • 分类号G01N21/69;G01N21/17;

  • 代理机构西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人罗笛

  • 地址 712021 陕西省咸阳市彩虹路1号

  • 入库时间 2023-12-17 16:29:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-01-28

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2005-11-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-09-07

    公开

    公开

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