在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法

摘要

一种在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法，其在光驱升速过程中，判断光驱的期望速度大于一检测速度时，先将待测盘片升速至该检测速度，然后令该待测盘片离开锁轨状态后，判断该待测盘片是否为一质量偏心片，若是且该期望速度大于该待测盘片的一最高工作速度，则令该待测盘片回到锁轨状态并升速至该最高工作速度，否则令该待测盘片回到锁轨状态并升速至该期望速度。从而使质量偏心盘片能被光驱正常读取并提高检测质量偏心盘片的准确度。

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种质量偏心盘片的检测及控制方法，特别是指一种可提高检测质量偏心盘片的准确度，使质量偏心片能够被光驱正确读取的、在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法。

【背景技术】

一般使用者为了方便辨识光盘片的内容，常会在光盘片的书写面贴上卷标，导致被贴卷标的光盘片的质量中心偏离圆心位置，而成为一质量偏心盘片。然由于目前主流光驱(包含CD-ROM与DVD-ROM)的主轴马达转速都已突破10000RPM，以致质量偏心盘片在高速旋转下会产生过度振动，这不只会对光驱本身的伺服控制造成相当大的影响，而且会减短光驱机构的寿命。此外，OEM厂商亦必须遵循对于读取质量偏心盘片时的噪音分贝量和振动值所订下的规范，因此，如何判断盘片是否为一质量偏心盘片进而提早降低光驱的读取速度(旋转速度)以避免上述情形发生，即成为本技术领域在开发光驱系统必需考虑的重点之一。

以往检测质量偏心盘片的方式是利用质量偏心盘片在旋转时产生的轴向误差(即focus error，简称FE)和径向误差(即tracking error，简称TE)较正常盘片来得大的关系，设定一FE与TE标准值与待测盘片的FE和TE比较，借此判定该待测盘片是否为质量偏心片。但此一作法的缺点是当非质量偏心盘片本身有刮伤、翘曲或非同心而产生较大TE和FE时，此一量化标准即可能导致误判。此外，当使用的光驱本身的聚焦控制器及锁轨控制器的强健度不足时，质量偏心盘片将受到聚焦控制器及锁轨控制器的影响使得产生的TE及FE较强健度佳的光驱所产生的TE及FE来得大，而容易发生误判的情形。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种可准确检测质量偏心盘片并使光驱能够正确读取质量偏心盘片的、在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法。

本发明在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法，包括：(a)在升速过程中，若光驱的一期望速度大于一检测速度时，先将一待测盘片升速至该检测速度；(b)令该待测盘片离开锁轨状态；及(c)判断该待测盘片是否为一质量偏心片，若是且该期望速度大于该待测盘片的一最高工作速度，则令该待测盘片回到锁轨状态并升速至该最高工作速度，否则令该待测盘片回到锁轨状态并升速至该期望速度。借此，达到提高检测质量偏心盘片的准确度，使质量偏心片能够被光驱正确读取的功效。

【附图说明】

下面通过最佳实施例及附图对本发明在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法进行详细说明，附图中：

图1是一光驱的光学读取头上的光检知器位于盘片上方时的相对位置示意图。

图2是本发明在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法的一实施例的流程图。

图3是本实施例的第二MPPO信号。

图4是本实施例的第二SPPO信号。

图5是本实施例的径向晃动信号。

图6是本实施例的缺陷检测器的实施状态示意图。

图7是本实施例的低通滤波器的实施状态示意图。

【具体实施方式】

有关本发明的前述及其它技术内容、特点与功效，在以下配合附图的一实施例的详细说明中，将可清楚地理解。

首先参阅图1所示，是一光驱(图未示)在读取一盘片2时，其光学读取头(Pick-Up Head，以下简称PUH)上的光检知器A～H的排列位置，当光检知器A～D位在盘片2轨道的沟(pit)20上时，光检知器E、F也会在同一沟(pit)上，而光检知器G、H会位在该沟(pit)两侧的轨(land)21上，且光检知器A、B、C、D检知到的光信号合称主光束(mean beam)，光检知器E、F及G、H检知到的光信号称为次光束(sub beam)，又主光束推挽输出(Mean beam push-pull output，以下简称MPPO)信号等于(A+D)-(B+C)，而次光束推挽输出(Sub beampush-pull output，以下简称SPPO)信号等于(F+H)-(E+G)。

且在此要先定义三种速度：

(1)检测速度：为使光驱机构共振现象最明显的主轴马达转速。

(2)质量偏心盘片的最高工作速度。

(3)期望速度：为正常盘片的最高工作速度。

参阅图2所示，是本发明在光驱上检测暨控制质量偏心盘片的方法的一实施例的流程图。该方法可被以一计算机程序实现并载置(以install或烧录方式)于一光驱上执行。该方法的步骤如下：

(A)开启光驱，将待测盘片2置入光驱中并激活光驱的PUH，一开始，光驱会先升速至一校正速度(例如4倍速)，使其PUH对待测盘片2进行聚焦及锁轨。此时，可从PUH上取得一第一MPPO信号及一第一SPPO信号并测量两者的一比例值K，以及测量第一MPPO信号的一直流准位D。然后，光驱在完成聚焦及锁轨后即进一步升速至一预备(ready)速度(例如8倍速)。

(B)接着，预设一检测速度(例如24倍速)，并判断待测盘片2的一期望速度(即盘片的最高工作速度)是否大于该检测速度，若待测盘片2的期望速度(例如16倍速)小于该检测速度时，则将该盘片2升速至该期望速度后，即结束检测动作。否则(即待测盘片2的期望速度(例如52倍速)大于该检测速度)进入下一检测步骤。

(C)在开始检测之前，本实施例会令光驱先将待测盘片2由预备速度(8倍速)升速至该检测速度(24倍速)并使其PUH离开锁轨状态(即暂时停止锁轨)。且如图1、图3及图4所示，由于此时PUH并不会随着待测盘片2上轨道的偏摆跟着移动，所以此时产生的一第二MPPO信号如图3所示，其表示盘片上轨道推挽大小信号(在弦波10的波幅上产生的高频信号11)和待测盘片2径向晃动大小的电压信号(即弦波10)的合成。而第二SPPO信号则如图4所示，其与第二MPPO信号类似，只是电压振幅大小值不同以及盘片径向晃动大小的电压信号(即弦波12)与MPPO信号反向。因此，可以将第二MPPO信号减去(比例值K乘以第二SPPO信号)以消除盘片轨道推挽大小信号，而得到如图5所示待测盘片2的径向晃动大小的电压信号(即弦波10，以下简称径向晃动信号)，且此一径向晃动信号是在PUH聚焦但不锁轨的状态下所产生，其不易受到盘片本身刮伤、翘曲或非同心等缺陷因素所影响，因此以径向晃动信号做为质量偏心盘片的检测较不易发生上述以往技术的误判情形。

此外，为消除不同光盘片的反射光量(即径向晃动信号的振幅)不相同的特性，在本实施例中，更可借由将该径向晃动信号除以在前述步骤(A)中求得的第一MPPO信号的直流准位D(径向晃动信号/D)，将不同光盘片所产生的径向晃动信号予以正规化。如此，经正规化后的径向晃动信号的峰值(Vpp)将可忠实反应出待测盘片2在光驱中径向晃动的情形。

(D)依据上述步骤(A)～(C)，本实施例可预先利用各种标准质量偏心片(例如0.3gcm、0.5gcm、0.75gcm及1.0gcm偏心盘片)的参考峰值(Vref1、Vref2、Vref3及Vref4)决一定Vref(如0.5gcm)，而当待测盘片2的径向晃动信号的峰值(Vpp)大于此Vref时即判定此一待测盘片2为一质量偏心片。

因此，当待测盘片2判断结果为一质量偏心盘片时，光驱即不会将该待测盘片2升速至期望速度(52倍速)，且在本实施例中，是令待测盘片2回到锁轨状态后，将其转速限制在质量偏心盘片的一最高工作速度(例如32倍速)，使光驱在低转速下可以正确地读取质量偏心盘片上的资料，并使质量偏心盘片在低转速下不致产生太大振动，进而降低对光驱的伺服控制系统的影响程度。

另外，当待测盘片2判断结果并非一质量偏心片时，即令待测盘片2回到锁轨状态，并升速至其期望速度(52倍速或光驱的最高转速)。

此外，为使径向晃动信号的Vpp值不受光盘片缺陷的影响(虽然突波对径向晃动信号的影响不大)，如图6所示，在本实施例中，更可利用一缺陷检测器3来作缺陷的检测。当径向晃动信号通过缺陷检测器3时，径向晃动信号上由盘片缺陷造成的突波P将被缺陷检测器3所检测出并设定标记M。如此，在对径向晃动信号进行峰值检测时，可避免检测出的峰值受到突波P的影响。

另外，如图7所示，为消除径向晃动信号上的突波P，本实施例也可先令该径向晃动信号通过一低通滤波器4使滤除径向晃动信号上的突波P后，再对径向晃动信号进行峰值检测。

综上所述，本发明在光驱上检测及控制质量偏心盘片的方法，通过取得质量偏心盘片的径向晃动信号的峰值(Vpp)并与一(或多个)参考峰值(Vref)比较，除了可降低误判的情况，提高检测质量偏心盘片的准确度，而且，借由检测结果适时提升或降低盘片转速，使光驱可在较低转速下正确读取质量偏心盘片上的资料，让质量偏心盘片在低转速下不致产生太大振动，进而降低对光驱的伺服控制系统的影响程度，并使光驱的PUH在读取盘片时的噪音分贝量及机构振动皆能符合既定的规范，使得光驱机构的寿命也得以延长。