首页> 中国专利> 用光电导采样进行的电压测量

用光电导采样进行的电压测量

摘要

一种探测电压的方法,包括:在被测导体和光电导开关的第一接线端之间建立电气连接;在采样间隔n内,施加激光脉冲到光电导开关,而相应于在前一采样间隔n-1的电压样本,施加电压到光电导开关的第二接线端输入,这样流经光电导开关的电流依赖于导体上的电压和所施加的电压之间的差;将电流转换为电压信号;在选通间隔内传导电压信号,并对所通过的电压信号进行采样,以得到采样间隔n内的电压样本。输入到导体的重复测试模式和采样间隔与重复测试模式同步。将电流转换为电压信号包括施加电流输入到其上升时间比选通间隔小的电流-电压转换器。只有在选通间隔期间,才可传递电压信号,因此,电压样本不受选通间隔之外任何通过光电导开关的泄漏的影响。在选通间隔期间,传递电压信号包括施加电压信号给晶体管Q

著录项

  • 公开/公告号CN1564948A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 恩普泰斯特有限责任公司;

    申请/专利号CN02819555.8

  • 发明设计人 K·R·威尔希;F·霍;

    申请日2002-10-12

  • 分类号G01R19/00;

  • 代理机构北京市中咨律师事务所;

  • 代理人杨晓光

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 15:51:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-01-18

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-01-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号