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强电介质膜的形成方法、强电介质存储器、强电介质存储器的制造方法、半导体装置及半导体装置制造方法

摘要

一种强电介质膜的形成方法,对形成在基板(10)上的非晶质的氧化物膜(30)照射脉冲状的激光或灯光,形成氧化物的微结晶核(40)。然后,在含有微结晶核(40)的氧化物膜上形成光透过/吸收膜(22)。再从光透过/吸收膜(22)的上部照射脉冲状的激光或灯光,使氧化物结晶化,形成强电介质(50)。

著录项

  • 公开/公告号CN1545734A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 精工爱普生株式会社;

    申请/专利号CN03800862.9

  • 发明设计人 泽崎立雄;

    申请日2003-03-28

  • 分类号H01L27/105;H01L21/316;C01G25/00;C01G35/00;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人李香兰

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-17 15:39:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-01-24

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-01-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-11-10

    公开

    公开

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