首页> 中国专利> 采用用于激励的聚焦光学器件和用于收集的聚焦单色器的波长色散X射线荧光分析(XRF)系统

采用用于激励的聚焦光学器件和用于收集的聚焦单色器的波长色散X射线荧光分析(XRF)系统

摘要

本发明提供X射线荧光(XRF)光谱测定系统和方法。XRF系统(100)包括X射线辐射源(110)、和布置在X射线辐射源(110)和试样(130)之间的激励光学器件(120)、以便收集来自所述辐射源的X射线辐射,并将X射线辐射聚焦到试样上的一个焦点,以引起试样中至少一种被分析物发出荧光。该系统(100)还包括X射线探测仪(150),和收集光学器件(140)。收集光学器件包括至少一个双曲衍射光学器件,该双曲衍射光学器件布置在试样和X射线探测仪之间,以便收集来自试样上的焦点处的X射线荧光,并将荧光X射线导向至少一个X射线探测仪。

著录项

  • 公开/公告号CN1543653A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 X射线光学系统公司;

    申请/专利号CN02816193.9

  • 发明设计人 陈泽武;戴维·M·吉布森;

    申请日2002-06-18

  • 分类号G21K1/06;

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人蔡洪贵

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2023-12-17 15:34:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-03-22

    授权

    授权

  • 2005-01-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-11-03

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号