校验和写入方法与校验和检验设备

摘要

一种更方便的校验和写入方法和校验和检验设备。该方法包括：通过从存储器读取数值并对所读出的数值求和来计算第一校验和；通过从第一校验和中减去存储器的预定区中所写入的数值来计算第一模式校验和；如果第一模式校验和不满足预定的条件则把第二校验和初始化为零；通过把第二校验和反向并把反向的第二校验和加到第一模式校验和上来计算第二模式校验和；如果第二模式校验和等于第二校验和，则在存储器的预定区内写入反向的第二校验和。

说明书

相关申请的相互参考

本申请要求2003年2月11日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.2003-8459的权益，它的公开文本被全面引入作为参考。

                        技术领域

本发明涉及一种校验和(checksum)写入方法和一种校验和检验设备，特别涉及一种为存储器计算和写入校验和的方法，以及一种检验用于具有微型计算机和存储器的系统中的校验和的设备。

                        背景技术

通常，一个使用微型计算机的设备也使用可编程存储介质，例如ROM或闪速存储器。当在设备中出现问题或必需校验存储器中的有关程序的信息时，校验和被检验。

以前，为了检验校验和是否正确，设备必须拆开，必须核实存储器外面印着的校验和值。拆开和重新装配设备需要大量的时间，而且设备或产品还可能被损坏。

因此，写入和检验存储器中的校验和而不用拆卸有关设备是有益的。

                            发明内容

本发明提供了一种计算存储在存储器中的数据的校验和并在存储器的预定区域中写入所计算的校验和的方法，以及提供一种执行该方法的设备。

按照本发明的一个方面，计算和写入存储器中的校验和的方法包括：通过利用预定的单元从存储器中读出数值并对所读取的数值进行求和来计算第一校验和；通过从第一校验和中减去在存储器的预定区域中所写的数值来计算第一模式校验和；如果第一模式校验和不满足预定条件则把第二校验和初始化为零；通过把第二校验和反向并把所反向的第二校验和加到第一模式校验和来计算第二模式校验和；如果第二模式校验和等于第二校验和，则在存储器的预定区域中写入反向的第二校验和数值。

上述使用的术语“反向”和“反向的”，遍及整个说明书和权利要求书，它是指通过把一个数值乘以-1而把该数值的符号反向。例如，利用这里所定义的术语，X值的反向值是-X，-X的反向值是X。

按照本发明的另一个方面，用于检验校验和的设备包括：一个在存储器中存储预定程序和校验和的存储器；一个执行存储在存储器中的程序，把存储在存储器中的校验和反向并输出来自存储器的反向校验和的微计算机；以及一个通过以下方法计算并写入存储器中的校验和的校验和计算器：通过使用一个预定单元从存储器读取数值并对所读的数值求和来计算第一校验和；通过从第一校验和中减去在存储器的预定区域中写入的数值来计算第一模式校验和；如果第一模式校验和不满足预定条件就把第二校验和初始化为零；通过把第二校验和反向并把所反向的第二校验和加到第一模式校验和上来计算第二模式校验和；如果第二模式校验和等于第二校验和，则在存储器的预定区中写入反向的第二校验和值。

本发明的其他方面和/或优点将部分地在下面的描述中陈述，部分地从这些描述中是明显的，或通过本发明的实践可以被理解。

                        附图说明

本发明的这些和/或其它的方面和优点，从下面结合附图进行的实施例的描述中将变得更清楚和更容易理解，附图是：

图1是表示根据本发明的一个实施例的校验和检验设备的方块图；

图2是表示本发明的校验和计算方法的流程图；

图3表示在存储器的末段(end portion)上存储的数据；以及

图4是表示根据本发明的一个实施例的校验和写入方法的流程图。

                          具体实施方式

现在详细参考本发明的几个实施例，它们的例子在附图中做了说明，其中相同的参考标号始终表示相同的元件。下面通过参考附图描述几个实施例来解释本发明。

下面，将详细参考附图对本发明的实施例的校验和计算方法和校验和检验设备进行描述。

图1是根据本发明的实施例的校验和检验设备的方块图。图1中所示的校验和检验设备包括一个具有微型计算机10-1，一个存储器10-2(作为例子，这里表示为ROM)，一个校验和计算器10-3的设备10，和一个显示器11。微型计算机10-1读出在存储器10-2中存储的程序并执行对应于这些程序的操作。校验和计算器10-3读取存储在存储器10-2中的数据，计算校验和，并把所计算的校验和存储在存储器10-2的预定区域中。微计算机10-1能够按用户的请求读出存储在存储器10-2中的校验和，并在设备10的外部的显示器11上显示该校验和。这里，光发射二极管(LED)或一个屏幕上显示器(OSD)可被用作显示器11。

现在将参考在图2和4所示的校验和计算方法来解释校验和计算器10-3的操作。图3示出了具有存储数据的存储器的末段(end portion)。

校验和计算器10-3通过逐字节地读取存储器中存储的数据来计算校验和。在图2中的操作20中，指示一个存储器地址的ROM指针(rom-ptr)被设定为零，并且校验和(chksum)被初始化为零。作为参考，在图2至4中以0x开始或以“h”结束的数表示十六进制的数值。在操作21中，通过将现有校验和数值(chksum)加到ROM指针所指示的地址中所写入的数值(^*rom_ptr)上来计算新的校验和(chksum)。接着，在操作22中，ROM指针的值被增加1。然后，在操作23中，如果ROM指针的增加后的值小于或等于存储器的总容量，则操作21至23被重复。

如果ROM指针的增加后的值大于存储器的总容量，前面操作中所计算的校验和就被存储在存储器10-2的预定区中，例如，如图3所示的最后两个字节A和B中。在图3中，参考标号30和31分别表示地址和数据写入部分。一般，图3中所示的存储器的末段是空的。因此，如果校验和写入在存储器的最后两个字节上，可以不拆开设备就检验校验和。

不过，在存储器的最后两个字节中写入校验和导致改变了对于整个存储器的内部校验和数值。因此，需要几个附加字节以校正所改变的校验和数值。

因此，要求有一种写入校验和而不改变整个存储器的校验和的方法。图4是表示这样一种方法的流程图。按照图2的方法在操作40中计算整个存储器的第一校验和(chksum)。其次，第一模式校验和(modl-chksum)是通过从操作41中所计算的第一校验和中减去，如在图3中A和B的例子存储的，在图2中所计算的校验和(2*(0xFF))来计算的。然后，在操作42中，如果用257(0×0101)按模计算(modulo-calculating)第一模式校验和(mod-chksum)产生数值2，则在操作43中校正图3中用C表示的字节的最低有效位。例如，如果存储在C中的值是0xFF，它就被校正成0xFE。这表示，超出总共65536个数值的，从0开始的，每第258个数据数值应该被校正。在操作44中，最初具有零值的第二校验和(i_chksum)被增加1。第二校验和(i_chksum)然后被反向。然后，如图4中操作45中所示，用反向的第二校验和的高字节值代替A中的值，用同一校验和的低字节值代替B中存储的值。在操作46中，存储在A和B中的字节数值被加到操作41的第一模式校验和上，这个加得的数值被确定为第二模式校验和(mod2_chksum)，以便和操作41的第一模式校验和相区别。在操作47中，如果第二校验和(i_chksum)和第二模式校验和(mod2_chksum)相同，则反向第二校验和在操作48中被写入A和B。如果在操作47中上述两个数值不相同，目前的第二校验和数值就增加1，并重复操作45至47，直到第二校验和变成0xFFFF。

如果校验和晚些时候被检验，如果校验和是正常的话，写在存储器的A和B中的反向的第二校验和被读出，然后被反向以检验是否校验和是正常。即，通过对写在最后两个字节中的反向的第二校验和(-i_chksum)和除存储器的最后两个字节外的字节中写的数值进行检验(check-summing)所得到的结果成为第二校验和(i_chksum)。因此，可以通过对写在最后两个字节中的反向的第二校验和进行再-反向并输出再反向的数值来进行随后的校验和检验。这个校验和数值可以在图1的显示器11上显示。

按照本发明，不用拆开设备可以容易地写入然后检验校验和，这使得校验和的写入和校验更方便，因为当在存储器中写入校验和的时候，只是再需要对于存储器中的空的部分中的256种情况的两个字节，或仅仅两个字节加一个比特。

本发明可以作为可以在通过计算机读出的、计算机可读记录介质上的计算机编码来实现。计算机可读记录介质包括其上存储计算机可读数据的所有方式和型式的记录设备。

计算机可读记录介质至少包括例如磁存储介质(例如，ROM’s，软盘，硬盘等等)，光可读介质(例如，CD-ROM，DVD等等)，和载波(例如，在因特网上进行传输)的存储介质。同时，计算机可读记录介质可以被分布到通过网络连接的计算机系统，可以分布式的计算机可读代码进行存储和执行。

虽然已经对本发明的一些实施例进行了描述，本领域技术人员可以理解，在不脱离由权利要求和它的等价物定义的本发明的原则和精神的情况下，可以进行对这些实施例的改变。