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在使用具有预数值孔径控制的照射系统的光刻装置中改善线宽控制的系统和方法

摘要

一种在光刻装置中控制线宽变化的系统和方法。照射源发出电磁能量并穿过照射光学组件。照射光学组件包括具有第一和第二光学元件的部分相干性调节组件。第一光学元件,以预定的方式改变入射的电磁能的部分相干性,以补偿水平和垂直线偏移,第二光学元件,改变入射到所述第一光学元件上的电磁能的角分布。使用这两个光学元件一起根据照射场位置改变照射源发出的电磁能的部分相干性,并改善了线宽控制。调节第二光学元件允许校正与时间相关的线宽变化。

著录项

  • 公开/公告号CN1453643A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML美国公司;

    申请/专利号CN03122236.6

  • 申请日2003-04-23

  • 分类号G03F7/20;G03F7/00;G03F9/00;H01L21/027;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人王永刚

  • 地址 美国康涅狄格

  • 入库时间 2023-12-17 14:57:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-20

    专利权的转移 IPC(主分类):G03F7/20 登记生效日:20191202 变更前: 变更后: 申请日:20030423

    专利申请权、专利权的转移

  • 2019-12-20

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G03F7/20 变更前: 变更后: 申请日:20030423

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2007-03-28

    授权

    授权

  • 2005-04-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-11-05

    公开

    公开

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