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一种单/多层异质量子点结构的制作方法

摘要

一种制作单/多层异质量子点结构的方法,这种结构用于制作发光器件和微电子器件的活性层,选择合适的衬底材料,在该衬底上外延所需的半导体薄膜材料作为衬底,然后对衬底材料表面进行钝化,然后在钝化后的表面上生长一层纳米尺寸的岛状诱导层,再生长单/多层量子点结构,采用这种方法生长量子点工艺简单,量子点尺寸可调度大,并且适用于多种超晶格外延生长设备;在这种单/多层异质量子点结构中,由于量子限制效应导致三维方向上的载流子局域化;采用该新结构的半导体光电器件可以通过制作内量子效率高、温度特性稳定和开启电压低或阈值电压低的发光器件和电子器件。

著录项

  • 公开/公告号CN1414644A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN01136843.8

  • 申请日2001-10-26

  • 分类号H01L33/00;H01L31/00;H01S5/34;B82B3/00;

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路肖庄

  • 入库时间 2023-12-17 14:44:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2005-05-04

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2003-07-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-04-30

    公开

    公开

  • 2002-05-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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