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聚焦、位置测量、曝光及元件制造的方法及曝光装置

摘要

本案可以在不拘光罩的反射特性下,高精确度地实现一高产出率的对焦调整。其主要是将一可观察第一物体,并可通过第一物体与第一光学系组观察第二物体的第二光学系组的聚焦位置,对准于第一物体上的特定表面。其包含有:步骤(S8),用以相对于第一光学系组,将第二物体上的特定表面,对准于一与第一物体上的特定表面呈光学共轭的位置上;以及步骤(S10),其通过第一光学系组,使第二光学系组的聚焦位置,对准于第二物体上的特定表面。

著录项

  • 公开/公告号CN1419267A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-05-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 尼康株式会社;

    申请/专利号CN02149297.2

  • 发明设计人 小林满;

    申请日2002-11-11

  • 分类号H01L21/027;G03F7/20;

  • 代理机构北京集佳专利商标事务所;

  • 代理人王学强

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 14:44:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2005-11-23

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2003-05-21

    公开

    公开

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