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发光二极管平均发光强度的测量装置

摘要

本发明的发光二极管平均发光强度的测量装置,包括具有水平底板和竖向支架的基座,基座的水平底板上装置有在水平面内转动正、负90°的水平度盘,竖向支架具有水平孔,在水平度盘上固定有测试台,测试台与竖向支架彼此相隔,在测试台面对水平孔并与水平孔同轴线处设有插置被测件的插座和调节插座360°旋转的垂直度盘,光度探测器置于水平孔中,或通过镜筒置于水平孔中,其输出端与将光电流信号转换成电压信号的数显仪相连。本发明的测试仪结构简单,能按CIE规定的两种标准测试发光二极管平均发光强度;可以使LED测试标准化,消除各种测量不确定性,有利于与国际接轨。

著录项

  • 公开/公告号CN1395086A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN02136269.6

  • 发明设计人 鲍超;

    申请日2002-07-25

  • 分类号G01J1/00;

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人韩介梅

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区玉古路20号

  • 入库时间 2023-12-17 14:32:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2005-08-10

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2003-04-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-02-05

    公开

    公开

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