首页> 中国专利> 坐标及表面特性测量的零件加工程序分析及该程序的编制

坐标及表面特性测量的零件加工程序分析及该程序的编制

摘要

本发明公开一种坐标及表面特性测量的零件加工程序的分析及零件加工程序的编制方法,其通过零件加工程序进行测量的控制坐标及表面特性测量,分析零件加工程序,提取出测量信息或测量条件,通过对该测量条件可改写存储,就可以使实际测量中的最佳测量条件反映在零件加工程序中,并在以后的测量控制中可增加实际测量条件。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-11-04

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2004-09-15

    授权

    授权

  • 2001-11-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2000-12-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号