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具有内部测试电路的半导体集成电路器件

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摘要

半导体集成电路器件具有器件识别码(ID1),在判断包信号(RQ)是否寻址到其上,和时序发生器(16),它响应于表示器件识别码(ID1)和包信号中的输入器件识别码(ID2)一致的找到信号(IDHIT),为数据存取起动一控制序列,其中信号接收电路(12)由包信号(RQ)和表示老化测试的指令的测试信号(TP)共用,逻辑门(23)用于直接从内部模式信号(TEST)产生找到信号(IDHIT),以使时序发生器(16)在老化测试中起动控制序列,而不管测试信号(TP)和存储的器件识别码(ID1)是否一致。

著录项

公开/公告号CN1231482A

专利类型发明专利
公开/公告日1999-10-13

原文格式PDF
申请/专利权人日本电气株式会社;
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申请/专利号CN99103107.5
发明设计人原口嘉典;
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申请日1999-03-23
分类号G11C29/00;
代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;
代理人穆德骏;余朦
地址日本东京
入库时间 2023-12-17 13:25:32

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-05-11

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C29/00 授权公告日:20040407 终止日期:20150323 申请日:19990323

专利权的终止
2013-09-18

专利权的转移 IPC(主分类):G11C29/00 变更前: 变更后: 登记生效日:20130828 申请日:19990323

专利申请权、专利权的转移
2005-06-22

专利申请权、专利权的转移专利权的转移变更前: 变更后: 变更前:

专利申请权、专利权的转移专利权的转移
2004-04-07

授权

授权
2003-07-02

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移变更前: 变更后:

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
1999-10-13

公开

公开
1999-09-15

实质审查请求的生效

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