掺杂光纤的接触X射线宏观照相特性

摘要

用聚焦离子束(FIB)加工机切割光纤样品切片,并用软x－射线光源对切片进行接触x－射线照相,可以对光纤芯中的掺杂质进行精确地特性表征。通过在电子或原子力显微镜下分析接触x－射线照相,便可得到光纤芯玻璃基质中掺杂剂离子的分布图。通过对不同厚度的多个切片的结果进行插值处理,便可确定出单位长度光纤的掺杂剂浓度值。