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用双波长激光进行外差干涉测量绝对距离系统

摘要

本发明涉及一种用双波长激光进行外差干涉测量绝对距离的系统,属精密测量技术领域。该测距系统包括产生偏振方向正交的两个波长的激光器,实现双波长外差干涉的外差干涉仪,将外差信号进行光电转换的声光调制器以及外差信号的相位检测电路和数据处理单元。本发明的测距系统具有测量时间短、测量精度高、不易受环境影响、抗干扰能力强以及干涉仪结构简单等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN1099128A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1995-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN94101493.2

  • 发明设计人 赵洋;任伟明;梁晋文;

    申请日1994-03-04

  • 分类号G01B11/02;G01B9/02;

  • 代理机构清华大学专利事务所;

  • 代理人罗文群

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2023-12-17 12:35:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2000-11-08

    专利权的视为放弃

    专利权的视为放弃

  • 1995-02-22

    公开

    公开

  • 1995-02-08

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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