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缺陷判断训练方法及其的系统及缺陷判断方法及其的系统

摘要

缺陷判断训练方法包括以下步骤。首先,获取光学膜的图像,图像包含一缺陷区。然后,取得缺陷区的缺陷边界的多个边界点沿方向的多个座标值。然后,取得此些座标值的平均座标值。然后,取得各座标值与平均座标值的差值。然后,依据此些差值的最大者,决定图像中做为缺陷判断机器学习的区域。

著录项

  • 公开/公告号CN111507961A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 住华科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202010300051.1

  • 发明设计人 吴精文;李世欣;

    申请日2020-04-16

  • 分类号G06T7/00(20170101);

  • 代理机构11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人张燕华

  • 地址 中国台湾台南市善化区环东路2段32号

  • 入库时间 2023-12-17 11:45:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-07

    公开

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