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一种精确测定大气颗粒物采样膜沉积面积的装置及方法

摘要

本发明公开了一种精确测定大气颗粒物采样膜沉积面积的装置及方法,其中,该装置包括依次顺序连接的样品采集模块、样品扫描模块、图像分析显示模块,该装置的工作流程如下:通过样品采集模块采集大气颗粒物的滤膜样品;通过样品扫描模块对滤膜样品和标尺同时进行扫描,得到清晰的图片;再通过图像分析显示模块对图像以像素为单位进行测量并显示。本装置实现了对大量滤膜进行测量研究,并发现滤膜的实际面积和沉积面积与定义值都存在偏差,并且观察到滤膜上颗粒物沉积存在不均匀性。利用本装置可以准确的获得一些难以用传统方法测量的颗粒物沉积面积。

著录项

  • 公开/公告号CN111578869A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 暨南大学;

    申请/专利号CN202010527394.1

  • 申请日2020-06-11

  • 分类号G01B11/28(20060101);G01N15/04(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人詹丽红

  • 地址 510632 广东省广州市天河区黄埔大道西601号

  • 入库时间 2023-12-17 11:45:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    公开

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