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新型X射线成像闪烁体材料的定量检测与综合评价方法

摘要

本发明公开了一种用于X射线闪烁体新型材料的成像特性定量检测与综合评价方法,具体针对新型钙钛矿基纳米晶体材料,利用高亮度且能量连续可调的同步辐射X射线成像装置,设计出一套实用、客观、全面、准确的检测光路,以及数据采集与处理、定量计算方法,有效实现了新材料用于X射线成像闪烁体综合客观评价目标。该检测技术包括:检测光路设计与搭建;新材料闪烁体的制备与安装;高分辨数据采集与处理;新材料发光效率计算方法;采用图像MTF函数与衬度噪声比综合评价成像分辨率和灵敏度等技术步骤。该新型检测技术具有普适性,可用于不同能量X射线发光功能材料特性的综合定量检测与评价。

著录项

  • 公开/公告号CN111579567A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东理工大学;

    申请/专利号CN202010489871.X

  • 发明设计人 刘慧强;秦华;魏功祥;

    申请日2020-06-02

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 255086 山东省淄博市高新技术开发区高创园A座313室

  • 入库时间 2023-12-17 11:41:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    公开

    公开

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