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公开/公告号CN111579886A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-25
原文格式PDF
申请/专利权人 中国电子科技集团公司第三十八研究所;
申请/专利号CN202010425422.9
发明设计人 张重阳;黄文涛;张再庆;陈旭;刘浩;明章健;盛永鑫;
申请日2020-05-19
分类号G01R29/10(20060101);G01S7/40(20060101);
代理机构34153 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙);
代理人王林
地址 230000 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号
入库时间 2023-12-17 11:41:09
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-25
公开
机译: 近场光学元件,姿态测量系统及其姿态校正方法,近场光学记录器及其控制方法
机译: 近场天线测量的基于Carmer的定位器和方法,以及近场测量系统
机译: 根据球面测量确定天线近场的方法
机译:球面近场天线测量中高阶探头校正的系统矩阵方法的数值研究
机译:球面近场天线测量中探头位置误差的分析与校正
机译:关于时域天线近场测量系统探测校正校正传递函数的探讨
机译:一种低成本的平面近场/远场天线测量系统。
机译:球面近场测量中探头位置误差的通用解析校正
机译:用于球面近场天线测量的双phi-stepθ扫描技术:用于球面近场天线测量的双φ步进θ扫描技术
机译:实验球面近场天线测试设备。第7卷:带探头校正的球面近场转换程序(sNIFTC)