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一种差厚板晶体塑性本构模型建立方法、系统及电子设备

摘要

本发明公开了一种差厚板晶体塑性本构模型建立方法、系统及电子设备,涉及塑性成形领域。该方法包括:S1、获取差厚板在塑性成形过程中全部晶体的受力状态,根据所述受力状态建立差厚板多晶体塑性本构模型;S2、获取材料参数及微观组织分布,通过所述材料参数及所述微观组织分布对所述差厚板多晶体塑性本构模型进行调整并得到调整后的所述差厚板多晶体塑性本构模型;S3、根据调整后的所述差厚板多晶体塑性本构模型对所述差厚板的塑性变形进行模拟预测并得到预测结果。本发明适用于模型建立,能够解决因厚度不均匀而无法普遍适用的问题,达到避免宏观截面厚度差异的效果。

著录项

  • 公开/公告号CN111539071A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉工程大学;

    申请/专利号CN202010344653.7

  • 发明设计人 付秀娟;鲁江;

    申请日2020-04-27

  • 分类号G06F30/15(20200101);G06F30/23(20200101);G06F119/14(20200101);

  • 代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人赖定珍

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号

  • 入库时间 2023-12-17 11:28:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    公开

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