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一种双面阵CCD辅助三线阵CCD位姿光学测量及校准方法

摘要

本发明公开了一种双面阵CCD辅助三线阵CCD位姿光学测量及校准方法。步骤1:器材准备,确定合作目标,采用三个红色LED光点作为合作目标;步骤2:测量仪器安装;步骤3:柱面镜镜头设计,线阵CCD相机镜头采用柱面镜和滤光片组成;步骤4:进行测量,通过快速捕捉过程、粗调计算过程、精调计算过程和校准过程直至获得精调坐标数据。本发明基于像方远心光路的光学镜头,不仅满足系统大视场、大景深、低畸变的要求,而且采用双面阵CCD辅助三线阵CCD完成测量系统的构建。

著录项

  • 公开/公告号CN111595302A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN202010443168.5

  • 申请日2020-05-22

  • 分类号G01C11/00(20060101);G01C25/00(20060101);

  • 代理机构23211 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘景祥

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-12-17 11:28:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    公开

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