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一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统

摘要

本发明公开了一种分布式进程处理系统、半导体老化测试方法及系统、分布式系统,其中的分布式进程处理系统包括:一级节点管理模块,用以管理一级节点,并存储与一级节点与二级节点之间的对应关系,其中,将管理逻辑板作为一级节点,测试逻辑板作为二级节点,每一个二级节点上包括多个测试单元;多个二级节点管理模块,用以管理对应的二级节点以及与二级节点对应的测试进程,并存储二级节点与测试进程之间的对应关系,其中,每一个测试进程对应一个测试单元,并用以运行测试单元的测试实例。

著录项

  • 公开/公告号CN111552599A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉精测电子集团股份有限公司;

    申请/专利号CN202010340883.6

  • 发明设计人 陈凯;彭骞;

    申请日2020-04-26

  • 分类号G06F11/22(20060101);G06F9/48(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人罗飞

  • 地址 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号

  • 入库时间 2023-12-17 11:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    公开

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