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光谱重建方法、印刷质量的评估方法、系统及电子设备

摘要

本发明公开了一种光谱重建方法、印刷质量的评估方法、系统、存储介质以及电子设备,所述光谱重建方法包括:获取用于标准印刷测试的第一图像,所述第一图像包括多个标准色块;提取每个所述标准色块的第一RGB值;检测每个标准色块对应的第一光谱反射率;以第一RGB值为输入并且以第一光谱反射率为输出训练光谱重建模型,所述光谱重建模型用于预测待检测对象的光谱反射率;获取待检测对象的第二图像,第二图像包括待检测色块;提取待检测色块的第二RBG值;将第二RGB值输入训练后的光谱重建模型,以得到第二RGB值对应的第二光谱反射率。本发明技术方案可以有效降低光谱重建的成本,适合在工业印刷领域大规模推广应用。

著录项

  • 公开/公告号CN111537447A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海出版印刷高等专科学校;

    申请/专利号CN201910456316.4

  • 发明设计人 田东文;肖颖;葛惊寰;程鹏飞;

    申请日2019-05-29

  • 分类号G01N21/25(20060101);

  • 代理机构31283 上海弼兴律师事务所;

  • 代理人薛琦;张冉

  • 地址 200093 上海市杨浦区水丰路100号

  • 入库时间 2023-12-17 11:20:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    公开

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