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可变激发光源入射角度的PL波长的量测方法及装置

摘要

本发明涉及一种可变激发光源入射角度的PL波长的量测方法及装置,所述量测装置包括用于改变激发光源入射角度及光致发光的收光镜组的位置及角度调整机构,所述位置角度调整机构与PL量测系统的控制器相连接。该技术方案通过增设改变激发光源入射角度及光致发光的收光镜组的位置及角度调整机构,位置及角度调整机构设置分光仪或PL收光镜头可调收光镜头轨道轨迹,实现可变激发光源入射角度的VCSEL不同发光波长PL量测。该装置也可用在以连续光谱光源(紫外‑白光‑红外)的反射率光谱及吸收光谱的量测上。

著录项

  • 公开/公告号CN111562008A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京金太光芯科技有限公司;

    申请/专利号CN202010695784.X

  • 发明设计人 方照诒;潘德烈;

    申请日2020-07-20

  • 分类号G01J3/44(20060101);G01J3/42(20060101);

  • 代理机构11367 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李佳佳

  • 地址 100006 北京市东城区王府井大街218-1号B4层A407

  • 入库时间 2023-12-17 10:58:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    公开

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