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一种GaSb半导体衬底湿法刻蚀液及其配制方法和应用

摘要

本发明属于半导体加工制造领域,本发明涉及一种GaSb半导体衬底湿法刻蚀液及其配制方法和应用,其中各组分按重量百分比如下:1.5~2.5%氧化剂、2.5~4.0%腐蚀剂、18.0~38.0%络合剂、50.0~65.0%去离子水,各组分重量百分比总和为100%。其配置方法包括稀释、加热、搅拌等步骤。本发明具有成分简单,原料易得且价格低廉,操作工艺简便等特优点,可大幅降低GaSb半导体衬底刻蚀加工成本。

著录项

  • 公开/公告号CN111560250A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京化工大学;

    申请/专利号CN202010378915.1

  • 发明设计人 熊金平;王永东;赵攀;

    申请日2020-05-07

  • 分类号

  • 代理机构北京盛凡智荣知识产权代理有限公司;

  • 代理人李朦

  • 地址 100029 北京市朝阳区北三环东路15号

  • 入库时间 2023-12-17 10:50:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    公开

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