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用于光检测和测距(LIDAR)测量的同轴结构

摘要

一种用于使用初级光和在物体(110)上反射的次级光对物体(110)进行测距的LIDAR系统(100),包括:激光器(200),布置成沿发射光束(210)向LIDAR系统的扫描元件(800)发射初级光,其中与扫描元件相邻的至少一部分发射光束定义中心线(300);检测器(400),布置成沿接收光束(500)检测次级光,其中接收光束包括与中心线对齐的第一部分(510)和相对于中心线(300)具有倾角(530)的第二部分(520),其中接收光束的第二部分(520)位于接收光束的第一部分(510)和检测器(400)之间;以及分段透镜(600),位于接收光束的第一部分(510)和接收光束的第二部分(520)之间的中心线(300)上,分段透镜(600)包括与发射光束关联的发射透镜段(610)和与接收光束关联的接收透镜段(620),其中,接收透镜段(620)设计为将接收光束聚焦到检测器上。

著录项

  • 公开/公告号CN111417872A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 视野有限公司;

    申请/专利号CN201980005955.7

  • 发明设计人 麦可·史查德;M·劳舍尔;

    申请日2019-09-04

  • 分类号G01S17/89(20200101);G01S17/90(20200101);G01S7/481(20060101);G01S17/48(20060101);G01C15/00(20060101);

  • 代理机构11415 北京博思佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人艾佳

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2023-12-17 10:33:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-14

    公开

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