用于测量散射介质中的光学参数的设备

摘要

一种分光光度测量设备(1)，所述设备用于基于对通过扩散而传播通过散射介质(4)的光的衰减的测量来确定散射介质(4)中的光学参数。为了消除光被引导于所述介质(4)的表面(23)与所述设备(1)的接触表面(8)之间的中间光学层(25)中的有害影响，可以在接触表面(8)中形成大量的光学屏障(4)，或者可以通过合适的装置(13)限制设备(1)发射或接收光的角度范围。利用这两个替代方法，可以抑制中间层(25)中的光传播，从而提高测量准确度。本发明对于构建具有改善精确度的血氧计(1)特别有利。本发明的另外的方面涉及用于改善设备(1)在弯曲表面(23)上的适用性的特征，所述弯曲表面比如为新生儿的强烈弯曲的头骨。