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光场跨尺度的零次学习超分辨率方法

摘要

本发明公开了光场跨尺度的零次学习超分辨率方法,对输入的光场原始图像进行解码得到四维的光场矩阵;通过循环四维光场矩阵中的角度信息坐标提取u×v张不同角度的子孔径信息;在每一行子孔径图像中依次提取每幅图像相同高度的素点得到s幅光场EPI图像;光场EPI图像进行零次学习超分辨;超分辨以后的结果依次投影回原子孔径图像中的对应位置;通过步骤1‑6最终可以得到经过零次学习超分辨以后的光场子孔径图像,即代表了光场图像的不同视角。通过将零次学习与光场图像相结合,实现一种光场图像跨尺度超分辨的全新方法,为解决光场图像问题提供了一种新的思路,取得了不错的成果。

著录项

  • 公开/公告号CN111369443A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安理工大学;

    申请/专利号CN202010196773.7

  • 申请日2020-03-19

  • 分类号

  • 代理机构西安弘理专利事务所;

  • 代理人曾庆喜

  • 地址 710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号

  • 入库时间 2023-12-17 10:16:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T3/40 申请日:20200319

    实质审查的生效

  • 2020-07-03

    公开

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