一种提高自动测试覆盖率的方法、系统及电子设备

摘要

本发明涉及一种提高自动测试覆盖率的方法、系统及电子设备，首先采集第一预设数量的样本数据，并对其进行SVM模型映射后分析得到二值决策函数，并利用K折交叉验证法对对其进行训练得到多个二值SVM分类器，并根据所述二值SVM分类器作为二度非叶结点，所述二值决策函数分类结果作为叶结点，来构造二叉决策树，求叶结点最大值对应的种类即位分类结果，并将二叉决策树加入到自动测试程序中，在自动测试时，不需人工干预，就能实现对测试结果的自动分类，由此实现了一种利用人工智能提高自动测试覆盖率的方法。