一种电子设备自动测试模型及应用

摘要

采用自动测试技术可以大大地缩短电子设备故障查找时间,是快速修复电子设备的最佳方法.提出了由自动测试设备(ATE)模型、被测电子单元(UUT)模型和测试接口设备(TID)模型组成的一种电子设备自动测试模型,该模型使用信号描述方法定义了ATE测试能力、UUT信号要求及TID配置方法,并从系统集成、软件策略和测试描述3个方面,介绍了该模型在某型电子装备自动测试系统(ATS)中的应用情况.结果表明该模型对组建ATS和设计TID具有一定的指导作用.