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一种基于超声阵列检测无砟轨道近表面缺陷的成像方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于超声阵列检测无砟轨道近表面缺陷的成像方法及装置,所述成像方法是先利用脉冲信号激发接收换能器激发并经由超声阵列探头发射频率在1~2.5MHz范围内的超声波信号至无砟轨道内部,由超声阵列传感器采用自发自收的模式获取无砟轨道中的扩散场信号并将扩散场信号传输给计算机;由计算机采用MATLAB软件对所接收到的信号被动提取格林函数,对扩散场信号进行互相关,重建阵元之间的格林函数,获取阵元之间未延时的响应,恢复被噪声淹没的早期缺陷信息,然后依据全聚焦成像算法进行无砟轨道近表面缺陷成像。本发明可清晰的呈现出轨道板近表面缺陷的信息,能为高铁日常的轨道板损伤检测提供及时预警和有力的评估手段。

著录项

  • 公开/公告号CN111307945A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海工程技术大学;

    申请/专利号CN202010274426.1

  • 申请日2020-04-09

  • 分类号

  • 代理机构上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人马云

  • 地址 201620 上海市松江区龙腾路333号

  • 入库时间 2023-12-17 10:03:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N29/06 申请日:20200409

    实质审查的生效

  • 2020-06-19

    公开

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