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公开/公告号CN111122510A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-05-08
原文格式PDF
申请/专利权人 桂林电子科技大学;
申请/专利号CN201911091980.X
发明设计人 苑立波;李晟;孟令知;
申请日2019-11-08
分类号
代理机构
代理人
地址 541004 广西壮族自治区桂林市桂林金鸡路1号
入库时间 2023-12-17 09:59:34
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-07-28
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/45 申请日:20191108
实质审查的生效
2020-05-08
公开
机译: 基于F-P标准具的透射型正交偏振增强相显微镜成像装置
机译: 基于F-P干涉仪的腔内双波长共通相显微镜成像测量系统
机译: 基于F-P干涉仪的反射透射增强相显微镜成像测量系统
机译:使用基于谐波匹配的衍射光栅对的零差正交干涉仪进行全场相位成像
机译:使用透射式广角相位共焦显微镜的粒子成像
机译:通过输入偏振切换对光纤干涉仪进行正交相位采样
机译:使用基于光栅的正交相位干涉仪进行定量相位成像
机译:具有多波长光学相位展开的定量相位成像显微镜。
机译:基于干涉仪的结构照明显微镜通过两个摄像机的相长和相消图像检测利用互补的相位关系
机译:偏振和干涉显微镜中的图像对比和相位调制光方法。 paR Epm-1光电偏振和干涉显微镜使用说明书