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基于EPI_Volume的LF_SURF光场图像特征匹配方法

摘要

本发明基于EPI_Volume的LF_SURF光场图像特征匹配方法,具体按照以下步骤实施:步骤1、将第一张光场图像读入至MATLAB软件中得到光场图像五维矩阵[s,t,u,v,3];步骤2、计算得到四维水平EPI_Volume矩阵、四维垂直EPI_Volume矩阵;步骤3、进行SURF特征点检测得到光场图像精确特征点;步骤4、每个光场图像精确特征点生成128维特征描述向量;步骤5、将第一张光场图像的特征点与第二张光场图像的特征点按照欧式距离进行相似性度量进而完成特征点匹配;步骤6、根据特征匹配的精确率对特征匹配的正确性进行验证。本发明基于EPI_Volume的LF_SURF光场图像特征匹配方法,克服了现有的光场图像特征检测方法检测出的特征点不稳定,计算复杂度高,没有对特征点进行描述做进一步匹配的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN111353537A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安理工大学;

    申请/专利号CN202010131469.4

  • 发明设计人 金海燕;边敏艳;肖照林;蔡磊;

    申请日2020-02-28

  • 分类号

  • 代理机构西安弘理专利事务所;

  • 代理人张皎

  • 地址 710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号

  • 入库时间 2023-12-17 09:55:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/62 申请日:20200228

    实质审查的生效

  • 2020-06-30

    公开

    公开

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