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利用机器视觉检查系统测量工件表面的Z高度值的方法

摘要

一种利用机器视觉检查系统来测量工件表面的Z高度值的方法,包括:利用结构化光照射工件表面,收集工件的图像的至少两个堆栈,每个堆栈包括在每个堆栈中对应的Z高度处的、结构化光和工件表面之间的不同X‑Y位置,以及基于与在X‑Y平面中的相同工件位置相对应且处于相同Z高度的像素的强度值的集合来确定Z值。在图像的每个堆栈中,以比Z高度慢的速率改变X‑Y位置,并且X‑Y位置或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间以比Z移位慢的速率连续改变,或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间固定为不同的值。

著录项

  • 公开/公告号CN111380470A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社三丰;

    申请/专利号CN201911256393.1

  • 发明设计人 J.D.托比亚森;

    申请日2019-12-10

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邸万奎

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2023-12-17 09:46:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20191210

    实质审查的生效

  • 2020-07-07

    公开

    公开

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