一种利用荧光宽场成像的轨迹光强分布获取剪切场下微观运动信息的方法

摘要

本发明公开了一种利用荧光宽场成像的轨迹光强分布获取剪切场下微观运动信息的方法。该方法通过荧光粒子运动轨迹的光强分布获取单分子尺度下运动信息的测量分析方法。该方法采用课题组自行研制开发的高分子显微流变光谱仪，将宏观的剪切施加、流变测量技术与微观荧光宽场显微成像技术相结合，该方法具有单分子级别的灵敏度以及分辨率；并能通过软件分析光强分布特征，成功地从微观层面上得到了粒子运动信息以及其随外加剪切场的变化。该方法也将广泛的应用于复杂流场下的高分子物理基础研究领域，并获取微观物理图像和运动信息。