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基于单对电极电容成像检测技术的非导电材料开口缺陷宽度方向尺寸量化方法

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本发明公开了一种基于单对电极电容成像检测技术的非导电材料开口缺陷宽度方向尺寸量化的方法，涉及无损检测信号处理领域，包括：利用一个极板间距为S的探头接收包括非导电材料开口缺陷在内的输入单对电极电容成像连续n个位置处的检测信号电压值U

著录项

公开/公告号CN111272060A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-12

原文格式PDF
申请/专利权人中国石油大学(华东);
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申请/专利号CN201811477328.7
发明设计人殷晓康;谷悦;李振;李晨;王克凡;符嘉明;曹松;李伟;陈国明;
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申请日2018-12-05
分类号
代理机构
代理人
地址 266580 山东省青岛市黄岛区长江西路66号
入库时间 2023-12-17 09:08:21

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-07-07

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B7/14 申请日:20181205

实质审查的生效
2020-06-12

公开

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