首页> 中国专利> 双侧多重平面倾斜波面干涉仪及其检测方法

双侧多重平面倾斜波面干涉仪及其检测方法

摘要

一种双侧多重平面倾斜波面干涉仪,系统包括光源模块、第一干涉仪主机、第二干涉仪主机、双面标准平板、双面标准平板调整架、被测非透明平板元件、单点厚度测量传感器、控制处理单元;所述的第一干涉仪主机和第二干涉仪主机均为多重平面倾斜波面干涉仪,通过点源阵列发生器出射多个方向的平行测量光进行被测非透明平板元件的双侧形貌及厚度测量,本发明具有测量动态范围大、测量精度与效率高、相移方式灵活,系统误差可原位标定的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN111207844A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010054305.6

  • 发明设计人 唐锋;王向朝;郭福东;卢云君;

    申请日2020-01-17

  • 分类号

  • 代理机构上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张宁展

  • 地址 201800 上海市嘉定区清河路390号

  • 入库时间 2023-12-17 08:42:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J9/02 申请日:20200117

    实质审查的生效

  • 2020-05-29

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号