一种利用正电子湮没技术检测介电材料绝缘性能的方法

摘要

本发明具体涉及一种利用正电子湮没技术检测介电材料绝缘性能的方法，现有介电材料的绝缘性能检测方法存在试验装置庞大，耗费成本高以及现有方法只能得到材料表层陷阱信息、不能得到体态缺陷的问题。该方法如下：1、加工待测样品；2、形成检测组件；3、将检测组件固定放置在正电子寿命谱测量仪的两个探测器中间；4、正电子寿命谱测量仪收集到的正电子湮没事件数到达设定数量时，该待测样品测量完毕；5、正电子寿命谱测量仪分析得到正电子在介电材料中湮没的寿命数据，并计算得到正电子在介电材料中湮没的平均寿命；6、获取介电材料的缺陷信息；7、获取介电材料的绝缘性能。