公开/公告号CN111189620A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-05-22
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN202010037514.X
申请日2020-01-14
分类号G01M11/02(20060101);
代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人曹卫良
地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2023-12-17 08:04:32
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-16
实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20200114
实质审查的生效
2020-05-22
公开
公开
机译: 基于波前和双折射特性的波前延迟像差测量方法
机译: 基于光栅剪切干涉仪检测光学成像系统的波前像差的方法
机译: 基于3d光束测量的波前像差检索方法